Дело в том, Что эти приборы имеют толстую базу, падение потенциала на которой приводит к весьма сложной связи между плотностью прямого тока через диод и падением напряжения  на нем [1.6]. Нам достаточно отметить следующее.
 на нем [1.6]. Нам достаточно отметить следующее. 
Самой распространенной практической аппроксимацией ВАХ диода в прямом направлении является линейная аппроксимация [1.6] 
 
где  — пороговое напряжение диода;
 — пороговое напряжение диода;  — дифференциальное прямое сопротивленце диода. Смысл этих названий будет разъяснен в гл. 2.
 — дифференциальное прямое сопротивленце диода. Смысл этих названий будет разъяснен в гл. 2. 
В работе [1.7] предложена степенная аппроксимация ВАХ, которая в некоторых случаях может оказаться более близкой к экспериментальным данным: 
 
где К и  - константы. Значения N в случае использования аппроксимации (1.5) лежат в диапазоне
 - константы. Значения N в случае использования аппроксимации (1.5) лежат в диапазоне  . На рис. 1.6 приведены реальная ВАХ тиристора типа
. На рис. 1.6 приведены реальная ВАХ тиристора типа  и ее линейная и степенная аппроксимации.
 и ее линейная и степенная аппроксимации. 
С ростом температуры прямое падение напряжения, как правило, увеличивается. Эту зависимость обычно получают из эксперимента, так как корректная теоретическая модель температурной зависимости прямого падения напряжения в настоящее время отсутствует. 
Важным для понимания работы диода является то, что при больших плотностях тока в его слоях происходит накопление подвижных носителей заряда. Явление накопления заряда, как показано далее, существенно влияет на процесс выключения силового диода, при этом основное влияние на характеристики диода оказывает накопленный в  -базе заряд дырок:
-базе заряд дырок:  . Это обусловлено относительно большей инжекцией из более сильнолегированного
. Это обусловлено относительно большей инжекцией из более сильнолегированного  -слоя, меньшей подвижностью дырок по сравнению с электронами, большей толщиной
-слоя, меньшей подвижностью дырок по сравнению с электронами, большей толщиной  -слоя и большим временем жизни дырок в нем.
-слоя и большим временем жизни дырок в нем. 
Накопленный заряд Q зависит от прямого тока через диод и в стационарных условиях остается постоянным, так как процесс инжекции неосновных носителей заряда уравновешивается процессом их рекомбинации.