Пред.
След.
Макеты страниц
Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике ДЛЯ СТУДЕНТОВ И ШКОЛЬНИКОВ ЕСТЬ
ZADANIA.TO
10.7. Электронный микроанализ: количественные результатыЭлектронный микроанализ используется для идентификации элементов и количественного анализа элементного состава. В принципе могут быть исследованы все элементы с атомным номером больше, чем у бериллия, но практически методика применима главным образом для
Рис. 10.7. Ширина регистрации элементов составляет При наличии соответствующих калибровочных данных количественный анализ концентрации данного элемента может быть выполнен с точностью около 1%. Простейшая процедура состоит в измерении выхода
Концентрация
если стандартный и исследуемый образцы подвергаются воздействию идентичных электронных пучков, а условия регистрации рентгеновского излучения и атомный состав в образце и стандарте близки, для того чтобы эффекты поглощения излучения были эквивалентны. Часто требуется знать отношение концентраций
Рис. 10.8. а — энергетические спектры рентгеновского излучения при бомбардировке силицида никеля электронами с энергией отношениями атомных концентраций. Пример такой процедуры показан на рис. 10.8, где приведены линии 10.7.1. Количественный анализОпределение абсолютной концентрации элемента в неизвестной матрице представляет собой сложную задачу. Рассмотрим вначале выход рентгеновского излучения
где N — число атомов в единице объема;
Рис. 10.9. Зависимость доли рентгеновского излучения; Полный наблюдаемый выход Y дается выражением
где R — длина пробега электрона, а второй член включает влияние вторичной флюоресценции, возникающей за счет поглощения рентгеновских квантов большой энергии (генерируемых другими тяжелыми атомами внутри матрицы), и переизлучение рассматриваемого рентгеновского излучения. Формула (10.17) учитывает 1) изменение сечения в зависимости от глубины проникновения в образец вследствие изменения энергии электронов и 2) ослабление пучка Ослабление пучка может быть неожиданно большим. На рис. 10.9 показана доля обратного рассеяния как функция от Z для двух различных энергий налетающих электронов. Доля обратно рассеянных электронов почти не зависит от энергии. 10.7.2. Поправочные множителиНа практике при определении состава формулы (10.17) и (10.18) не применяются в явном виде, скорее используется сравнение выхода рентгеновского излучения из неизвестного образца и из стандартного. Однако даже в этих условиях необходимо делать поправки, так как многие множители в (10.17) зависят от матрицы. Широкие исследования в области микроанализа дали начало подходу, основанному на эмпирических поправочных множителях, представляющих эффекты, зависящие от матрицы. Некоторое представление о поправочных множителях, используемых в количественном анализе, можно получить, рассмотрев процедуру определения концентрации рентгеновского излучения от исследуемого образца и от стандартного, составленного из элемента А. Используется выражение вида [2, 5]
где Z — поправочный множитель на атомный номер; А — поправочный множитель на поглощение; F — поправочный множитель на флюоресценцию. Эти поправки связаны с тремя главными эффектами, возникающими из-за различия характеристик исследуемого и стандартного образцов по отношению к взаимодействию с электронными и рентгеновским излучением. Поправка на атомный номер Z отражает тот факт, что возбуждение первичного рентгеновского излучения в образцах не возрастает линейно с концентрацией. Доля налетающих электронов, которые испытывают обратное рассеяние, и объем образца, в котором возникает рентгеновское излучение, зависят от состава образца. Поправка на поглощение А требуется из-за того, что коэффициент поглощения, т. е. ослабления выходящего рентгеновского излучения, будет различным в исследуемом и стандартном образцах. Поправка на флюоресценцию F описывает возбуждение вторичного рентгеновского излучения элемента А за счет флюоресцентного возбуждения рентгеновским излучением, испускаемым другим элементом (рис. 10.10). Этот эффект является наиболее сильным, когда возбуждающее излучение имеет энергию, несколько превышающую энергию связи, соответствующую
Рис. 10.10. Схематическое изображение генерации вторичного излучения в результате возбуждения флюоресценции первичным излучением. 1 — электроны; 2 — область первоначального возбуждения излучения измеряемой линии, т. е. вблизи максимума сечения поглощения. Например, в образце, содержащем железо и никель,
|
1 |
Оглавление
|