Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше
Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике
1.2. ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННО-ДЫРОЧНОМ ПЕРЕХОДЕ
В большинстве полупроводниковых приборов используются кристаллы полупроводника с двумя и более участками (слоями) с различным током проводимости (
).
При получении двухслойной структуры со слоями n- и p-типа обычно концентрация примесей в слоях несимметрична:
, либо
. Один из слоев имеет более высокую концентрацию основных носителей и большую электропроводность; например, на рис. 1.2, показана двухслойная структура, где
.
Рис. 1.2. Электронно дырочный переход при отсутствии внешнего электрического поля (а) и при приложении прямого (б) и обратного (в) напряжений
Область полупроводника, расположенная вблизи металлургической границы между
слоями, называется электронно-дырочным переходом или p-n переходом.
1. Рассмотрим процессы в
переходе в отсутствие внешнего электрического поля (рис. 1.2, а).
Из-за разности концентраций основных носителей в
-слоях происходит процесс диффузии через переход носителей заряда из области с повышенной в область с пониженной концентрацией носителей.
При этом основные носители в
-области — дырки — диффундируют в
-слой, а основные носители
-слоя — электроны — диффундируют в
-слой. Диффузионный ток через переход
, так как в рассматриваемом примере
.
Перейдя под воздействием сил диффузии металлургическую границу, носители рекомбинируют с основными носителями другого слоя. За счет ухода основных носителей из одного слоя и их рекомбинации в другом вблизи металлургической границы возникает область, обедненная подвижными основными носителями заряда и обладающая высоким сопротивлением (запирающий слой). В запирающем слое нарушается баланс положительных и отрицательных зарядов, так как при уменьшении концентрации подвижных носителей оказывается нескомпенсированным объемный заряд неподвижных ионов примесей: в
-слое — отрицательных, в
-слое — положительных ионов. Этот двойной электрический слой (рис. 1.2, а) создает электрическое поле с напряженностью
и приводит к появлению на кривой распределения потенциала
в полупроводнике потенциального барьера
.
Электрическое поле, возникшее внутри запирающего слоя, вызывает направленное движение носителей через переход — дрейфовый ток, направленный навстречу диффузионной составляющей тока через переход. Дрейфовый ток через переход
.
Диффузия носителей приводит к росту электрического поля и потенциального барьера, при этом растет дрейфовый ток. Рост двойного электрического слоя прекращается тогда, когда суммарный ток через переход равен нулю, т. е.
. Такой режим соответствует равновесному состоянию
перехода при отсутствии внешнего электрического поля.
Результирующий ток через переход в этом случае
Ширина запирающего слоя в
и
-слоях зависит от концентрации ионов примесей в слоях и тем меньше, чем больше концентрация примесей. Поэтому при рассматриваемом соотношении примесей
переход имеет двойной электрический слой, ширина которого в слабо легированной
-области больше (см. рис. 1.2, а).
2. Если двухслойный полупроводник включить в электрическую цепь (рис. 1.2, б) и приложить прямое напряжение
(плюс к
-слою, минус к
-слою), то это напряжение практически все оказывается приложенным к запирающему слою, как к участку с наибольшим сопротивлением. Из-за встречного направления внутреннего
и внешнего
полей результирующая напряженность поля в запирающем слое снижается и потенциальный барьер равен
.
В результате этого возрастает количество носителей, обладающих энергией, достаточной для преодоления потенциального барьера, и увеличивается диффузионная составляющая
тока через переход. Дрейфовая составляющая определяется только количеством неосновных носителей, подошедших к запирающему слою в процессе теплового движения, причем неосновные носители по-прежнему втягиваются полем перехода. Поэтому дрейфовый ток неосновных носителей от приложенного напряжения не зависит. Таким образом, суммарный ток через переход
. Это прямой ток
перехода. Потенциальный барьер
измеряется долями вольта, поэтому для протекания прямого тока к
переходу достаточно приложить напряжение, измеряемое тоже долями вольта. Уменьшение результирующего поля у
перехода приводит к уменьшению объемного заряда и сужению запирающего слоя.
3. Обратное смещение перехода (рис. 1.2, в) приводит к увеличению результирующего поля в запирающем слое и росту потенциального барьера:
. Диффузия носителей через переход становится практически невозможной, поэтому ток
. В этом случае поле
перехода втягивает все подошедшие к нему неосновные носители независимо от потенциального барьера и через переход протекает только ток неосновных носителей: ток дырок из
-области в
-слой и электронов из
-слой. Однако ток неосновных носителей, или обратный ток, значительно меньше прямого тока через
переход в случае 2, так как число неосновных носителей в полупроводнике мало. Соотношение прямого и обратного токов
перехода позволяет говорить об однонаправленной проводимости
перехода, т. е. о его выпрямляющем действии.
Обратный ток неосновных носителей через переход
иногда называют тепловым током, так как он сильно зависит от температуры: при нагреве полупроводника увеличивается генерация неосновных носителей; при этом тепловой ток удваивается при нагреве на 8° у германиевых приборов или на
у кремниевых приборов.
При обратном смещении
перехода суммарная напряженность электрического поля перехода возрастает, поэтому возрастает заряд двойного электрического слоя и ширина запирающего слоя. Этот эффект используется в некоторых типах полупроводниковых приборов (см. §1.6).
4. Зависимость тока через
переход от приложенного напряжения
называется вольт-амперной характеристикой (ВАХ) электронно-дырочного перехода. На рис. 1.3, а ВАХ изображена при одинаковом масштабе по осям для положительных и отрицательных значений напряжений и токов.
Рис. 1.3. Вольт-амперная характеристика
перехода при одинаковом масштабе токов и напряжений для прямого и обратного направлений (а) и различном масштабе
, кривая 1) и ВАХ полупроводникового диода
, кривая 2)
При малом прямом напряжении
протекает большой прямой ток, при больших обратных напряжениях — малый тепловой ток. Характеристика рис. 1.3, а практически соответствует характеристике идеального вентиля, у которого имеют место нулевое падение напряжения при протекании прямого тока и нулевой ток при приложении обратного напряжения. Следовательно, свойства
перехода близки к свойствам идеального вентиля
При необходимости учесть отличия ВАХ
перехода от идеальной вентильной характеристики ее строят в разных масштабах для положительных и отрицательных значений токов и напряжений (рис.
, кривая 1).