Пред.
След.
Макеты страниц
Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике ДЛЯ СТУДЕНТОВ И ШКОЛЬНИКОВ ЕСТЬ
ZADANIA.TO
§ 7.2. Экспресс-метод контроля диэлектрических проницаемостей подложек ОИС СВЧ1. Метод. Основные соотношения.Для обеспечения высокой надежности СВЧ модуля в ряде случаев необходим Разработан неразрушающий метод измерения ДП листовых материалов [375]. Однако анализ расчетных формул этого метода показывает, что область его применения ограничивается условием, по которому толщина контролируемых пластин должна быть много меньше длины волны, на которой производятся измерения. Это не позволяет проводить измерения ДП материалов в сантиметровом диапазоне волн.
Рис. 7.3. Устройство для измерения диэлектрической проницаемости подложек В настоящем разделе рассматривается неразрушающий экспресс-метод контроля ДП материалов в СВЧ диапазоне, основанный на изменении резонансной частоты кольцевого резонатора на НПЛ при внесении в его поле исследуемого материала. На рис. 7.3 показана схема устройства для контроля ДП предлагаемым экспресс-методом. Расчет рассматриваемой схемы основывается на известных соотношениях теории полосковых структур [1]. Эффективная ДП НПЛ резонатора без вносимого диэлектрика определяется, с одной стороны, из условия резонанса
где
где Когда на поверхность резонатора помещаете исследуемый материал, ДП которого необходимо измерить, резонансная частота смещается. При этом значение эффективной ДП двухслойной линии передачи может быть вычислено из условий резонанса на новой длине волны
или, если известны значения
Последняя формула справедлива для случая бесконечной толщины Подставив в (4) выражения (2) и (3) и заменив резонансные длины волн
где На практике формулу (5) можно использовать для образцов конечной толщины вследствие экспоненциального затухания электромагнитной волны в направлении, перпендикулярном подложке. Минимальная толщина образца должна отвечать практически полному затуханию электромагнитной волны. Как показано в [375], это имеет место при условии, что толщина образца превышает толщину подложки не менее чем в пять раз. Экспериментально была проверена справедливость указанного соотношения для подложек из поликора Изменение резонансной частоты в зависимости от отношения толщины образца и подложки случаю бесконечной толщины исследуемого диэлектрика. Как видно из рис. 7.4, для всех изученных материалов при всех исследуемых толщинах подложек наблюдается один и тот же характер зависимости, причем при Если же условие
Рис. 7.4. Зависимость ухода частоты от высоты измеряемой подложки Процесс определения ДП состоит в измерении резонансной частоты 2. Погрешность измерения и область применимости метода.Было изучено влияние размера воздушного зазора, образующегося между исследуемым материалом и подложкой резонатора за счет конечной толщины проводников НПЛ, на погрешность определения ДП по формуле (5) для образца и подложки из поликора. На рис. 7.5 приведена полученная зависимость погрешности измерения ДП от размера воздушного зазора (толщины проводника) для образцов, отвечающих условию Изложенные выше экспериментальные результаты получены для образцов и подложек, состоящих из одного и того же материала и имеющих поэтому близкие значения ДП. Было проведено экспериментальное определение погрешности измерения ДП с помощью предложенного метода при использовании образцов с ДП, отличающимися от ДП подложки. Для этого было изготовлено три резонатора с ДП подложек, равными 3; 5 и 9,6. С помощью этих резонаторов произведены измерения ДП образцов из материалов с различными хорошо известными ДП (фторопласт, кварц, поликор и др.) Погрешность определялась по разности измеренных и табличных значений ДП материалов. Минимальная погрешность наблюдалась для случая, когда отношение В связи с тем, что выражение (6) получено в приближении квази-Т-волн и не учитывает высших типов колебаний, использование его при определении ДП для случаев, когда При использовании образцов и подложек с близкими значениями ДП, как это следует из рис. 7.6, может быть достигнута достаточно высокая точность измерения.
Рис. 7.5. Зависимость погрешности измерения диэлектрической проницаемости от толщины проводника НПЛ
Рис. 7.6. Зависимость погрешности измерения диэлектрической проницаемости от отношения В целях упрощения устройство для определения ДП может быть изготовлено на одной из тех подложек, которые подвергаются контролю. В этом случае Ввиду простоты измерительной процедуры данный метод характеризуется достаточно высокой производительностью. Для использования описанного метода в целях измерения ДП различных материалов необходимо изготовить набор резонаторов с равномерно отличающимися друг от друга ДП подложек. При рассмотрении погрешностей данного метода оценена погрешность, вызываемая влиянием элементов связи на электрическую длину резонатора. Изменение электрической длины резонатора с измеряемым материалом и без него определяется из условия резонанса
где Экспериментально было установлено, что указанная погрешность для резонатора с диэлектриком и без него одинакова Погрешность, обусловленная влиянием элементов связи, быстро убывает с увеличением номера резонанса, и при корректном выборе размеров резонатора поправкой на эту погрешность можно пренебречь.
|
1 |
Оглавление
|