4.4. Фотодетекторы
 
Назначение фотодетектора в волоконно-оптических системах связи и световодных измерительных системах состоит в преобразовании оптического сигнала в электрический, который затем усиливается и обрабатывается в электронных схемах. Фотодетекторы должны иметь высокую чувствительность в рабочих спектральных диапазонах, минимальные шумы, достаточные для данной системы быстродействие и линейность отклика, высокую надежность. В наибольшей мере этим требованиям отвечают полупроводниковые  фотодиоды
 фотодиоды  и лавинные фотодиоды
 и лавинные фотодиоды  которые широко используются в волоконно-оптических системах [15, 77, 336]. Они имеют малые размеры и достаточно хорошо стыкуются с волоконными световодами и электронными схемами.
 которые широко используются в волоконно-оптических системах [15, 77, 336]. Они имеют малые размеры и достаточно хорошо стыкуются с волоконными световодами и электронными схемами. 
Типичные конструкции  типа изображены на рис. 4.24. Между слоями полупроводника с противоположными знаками проводимости
 типа изображены на рис. 4.24. Между слоями полупроводника с противоположными знаками проводимости  и
 и  -слои) расположена область с собственной проводимостью (
-слои) расположена область с собственной проводимостью ( -область);
-область);  и
 и  -слои с высокой концентрацией примесей имеют малое удельное сопротивление,
-слои с высокой концентрацией примесей имеют малое удельное сопротивление,  -слой - очень большое, близкое к собственному удельному сопротивлению материала. На диод подается обратное напряжение, такое что
-слой - очень большое, близкое к собственному удельному сопротивлению материала. На диод подается обратное напряжение, такое что  -слой обедняется свободными носителями. Фотоны, поглощаемые в обедненной области, вызывают переходы электронов в зону проводимости, т. е. приводят к рождению
-слой обедняется свободными носителями. Фотоны, поглощаемые в обедненной области, вызывают переходы электронов в зону проводимости, т. е. приводят к рождению 
 
пары электрон—дырка. Свободные носители, генерируемые при поглощении света, разделяются и ускоряются электрическим полем, которое в обедненном слое является сильным и практически однородным, и вызывают фототок в цепи смещснья Электронно-дырочные пары, рожденные вне обедненного слоя, движутся медленно и создают диффузионный ток. ФД  типа конструируются так, чтобы свет поглощался в основном в обедненной области, а постоянная времени фотодетектора определялась не диффузией носителей, а их дрейфом с высокой скоростью в
 типа конструируются так, чтобы свет поглощался в основном в обедненной области, а постоянная времени фотодетектора определялась не диффузией носителей, а их дрейфом с высокой скоростью в  -слое.
-слое. 
 
Рис. 4.24. Конструкции  фотодиодов: а — диод с фронтальным освещением,
 фотодиодов: а — диод с фронтальным освещением,  — диод с боковым освещением, 1 — металлические контакты; 2 — слой полупроводника с
 — диод с боковым освещением, 1 — металлические контакты; 2 — слой полупроводника с  -проводимостью, 3 —
-проводимостью, 3 —  -слой (обедненная область), 4 —
-слой (обедненная область), 4 —  -слой, 5 — диэлектрик
-слой, 5 — диэлектрик  — просветляющее покрытие, 7 — отражатель
 — просветляющее покрытие, 7 — отражатель 
Поэтому  -слой, через который свет проходит в диодах с фронтальным освещением (рис. 4.24, а), обычно в 10—100 раз
-слой, через который свет проходит в диодах с фронтальным освещением (рис. 4.24, а), обычно в 10—100 раз  мкм) тоньше
 мкм) тоньше  -слоя. В диодах с боковым освещением (рис. 4.24, б) свет попадает непосредственно в обедненную область, однако толщина ее не может быть большой
-слоя. В диодах с боковым освещением (рис. 4.24, б) свет попадает непосредственно в обедненную область, однако толщина ее не может быть большой  мкм), чтобы не увеличивать время пролета носителей, поэтому в такой конструкции возникают проблемы стыковки
 мкм), чтобы не увеличивать время пролета носителей, поэтому в такой конструкции возникают проблемы стыковки  со световодом. В обеих конструкциях на входную грань
 со световодом. В обеих конструкциях на входную грань  наносится просветляющее покрытие, чтобы изменить потери света на френелевское отражение от границы раздела полупроводник — воздух.
 наносится просветляющее покрытие, чтобы изменить потери света на френелевское отражение от границы раздела полупроводник — воздух. 
В ФД  типа в лучшем случае каждый поглощенный фотон рождает одну пару электрон—дырка. В лавинных фотодиодах происходит внутреннее усиление сигнала. ЛФД сконструированы с таким расчетом, что в них образуется область с сильным электрическим полем
 типа в лучшем случае каждый поглощенный фотон рождает одну пару электрон—дырка. В лавинных фотодиодах происходит внутреннее усиление сигнала. ЛФД сконструированы с таким расчетом, что в них образуется область с сильным электрическим полем  В/см). В таком поле электроны, генерируемые светом, ускоряются до энергий,
 В/см). В таком поле электроны, генерируемые светом, ускоряются до энергий,  -точных для ударной ионизации атомов кристаллической решетки Образующиеся в результате ионизации свободные носители также ускоряются и рождают новые пары. Такой лавинный процесс приводит к тому, что поглощение фотона порождает не одну электронно-дырочную пару, а десятки и сотни. Таким образом, в ЛФД происходит внутреннее умножение фототока с коэффициентом умножения М
-точных для ударной ионизации атомов кристаллической решетки Образующиеся в результате ионизации свободные носители также ускоряются и рождают новые пары. Такой лавинный процесс приводит к тому, что поглощение фотона порождает не одну электронно-дырочную пару, а десятки и сотни. Таким образом, в ЛФД происходит внутреннее умножение фототока с коэффициентом умножения М 
 
 
где V — обратное напряжение, приложенное к диоду; Упр — напряжение пробоя диода;  экспериментально определяемая величина
 экспериментально определяемая величина  зависящая от конструкции диода, его материала и условий освещения. Зависимость коэффициента умножения М от температуры определяется температурной зависимостью величин
 зависящая от конструкции диода, его материала и условий освещения. Зависимость коэффициента умножения М от температуры определяется температурной зависимостью величин  
 
 
где значения  и
 и  определяются эмпирически. Необходимо отметить, что умножение является статистическим процессом, в ходе которого каждый носитель, рожденный за счет поглощения фотона, создает случайное число вторичных носителей со средним значением М.
 определяются эмпирически. Необходимо отметить, что умножение является статистическим процессом, в ходе которого каждый носитель, рожденный за счет поглощения фотона, создает случайное число вторичных носителей со средним значением М. 
Одна из наиболее распространенных конструкций ЛФД схематически изображена на рис. 4.25 [266].  
 
Рис. 4.25. Конструкция ЛФД: 1 — металлические контакты; 2 —  слой, 3 —
 слой, 3 —  -слой, 4 -
-слой, 4 -  , 5 -
, 5 -  слой с охранным кольцом; 6 —
 слой с охранным кольцом; 6 —  -слой, 7 — просветляющее покрытие
-слой, 7 — просветляющее покрытие 
Структура ЛФД выращена на высоколегированной кремниевой подложке  -слой). Основная часть света поглощается, порождая первичные пары носителей, в
-слой). Основная часть света поглощается, порождая первичные пары носителей, в  -слое с собственной проводимостью. Умножение происходит в
-слое с собственной проводимостью. Умножение происходит в  -переходе, где электрическое поле велико. Слой с
-переходе, где электрическое поле велико. Слой с  -проводимостью, необходимый для создания области с умножением, окружен охранным кольцом с
-проводимостью, необходимый для создания области с умножением, окружен охранным кольцом с  -проводимостью, предотвращающим электрический пробой на краях умножающего перехода. Большая ширина обедненного слоя, относительно тонкий
-проводимостью, предотвращающим электрический пробой на краях умножающего перехода. Большая ширина обедненного слоя, относительно тонкий  -контактный слой и просветляющее покрытие делают ЛФД такой конструкции достаточно эффективным.
-контактный слой и просветляющее покрытие делают ЛФД такой конструкции достаточно эффективным. 
Фототок ФД  -типа определяется выражением, имеющим ясный физический смысл,
-типа определяется выражением, имеющим ясный физический смысл, 
 
 
где  — квантовая эффективность фотодетектора;
 — квантовая эффективность фотодетектора;  — заряд электрона; Р — мощность оптического излучения;
 — заряд электрона; Р — мощность оптического излучения;  — энергия фотона. Таким образом,
 — энергия фотона. Таким образом,  есть число фотонов, падающих на детектор в единицу времени. Квантовая эффективность определяет, какая часть фотонов рождает электроны; число электронов, рожденное в единицу времени, умноженное на заряд, дает фототок. Отсюда чувствительность
 есть число фотонов, падающих на детектор в единицу времени. Квантовая эффективность определяет, какая часть фотонов рождает электроны; число электронов, рожденное в единицу времени, умноженное на заряд, дает фототок. Отсюда чувствительность  фотодиода
 фотодиода  -типа
-типа 
 
 
или, если длину волны измерять в микрометрах,
 
 
В обедненном слое поглощаются фотоны, не отраженные от поверхности диода и не поглощенные контактным слоем, поэтому квантовая эффективность 
 
где  — коэффициент отражения света по мощности от границы воздух — полупроводник; а — коэффициент поглощения полупроводника;
 — коэффициент отражения света по мощности от границы воздух — полупроводник; а — коэффициент поглощения полупроводника;  и
 и  — ширина контактного и обедненного слоев соответственно. Из выражений (4.55) и (4.57) понятно, что существует «красная граница» в спектральной зависимости чувствительности, определяемая шириной запрещенной зоны. Фотоны с энергией, меньшей ширины запрещенной зоны, не поглощаются
 — ширина контактного и обедненного слоев соответственно. Из выражений (4.55) и (4.57) понятно, что существует «красная граница» в спектральной зависимости чувствительности, определяемая шириной запрещенной зоны. Фотоны с энергией, меньшей ширины запрещенной зоны, не поглощаются  причем граничная длина волны (мкм) определяется известным условием [см. формулу
 причем граничная длина волны (мкм) определяется известным условием [см. формулу  или
 или  Для диапазона длин волн
 Для диапазона длин волн  мкм широкое распространение получили кремниевые детекторы, поскольку технология кремниевых полупроводниковых приборов хорошо разработана и токи утечки в них незначительны. Кремниевые фотодиоды с тонким контактом (d < 1 мкм) и просветляющим покрытием в этом диапазоне длин волн имеют квантовую эффективность
 мкм широкое распространение получили кремниевые детекторы, поскольку технология кремниевых полупроводниковых приборов хорошо разработана и токи утечки в них незначительны. Кремниевые фотодиоды с тонким контактом (d < 1 мкм) и просветляющим покрытием в этом диапазоне длин волн имеют квантовую эффективность  и чувствительность
 и чувствительность  . Однако ширина запрещенной зоны (1,1 эВ) ограничивает использование кремния длинами волн не более 1,1 мкм. Для перспективных диапазонов вблизи 1,3 и 1,5 мкм используются германий и соединения
. Однако ширина запрещенной зоны (1,1 эВ) ограничивает использование кремния длинами волн не более 1,1 мкм. Для перспективных диапазонов вблизи 1,3 и 1,5 мкм используются германий и соединения  а также
 а также  
 
Чувствительность  как следует из изложенного выше,
 как следует из изложенного выше, 
 
Порог чувствительности фотодетекторов определяется как мощность излучения, при которой фототок равен шумовому току. Времена прихода отдельных фотонов — случайные величины, подчиняющиеся статистике Пуассона, поэтому ток в каждый момент времени также есть величина случайная. Как известно, такой шум носит название дробового, среднеквадратическое значение его спектральной плотности для значения фототока  
 
 
где  — частота сигнала.
 — частота сигнала. 
Величина  включает ток
 включает ток  вызванный мощностью светового сигнала, и темновой ток
 вызванный мощностью светового сигнала, и темновой ток  
 
 
Это означает, что для уменьшения шумов необходимо минимизировать темновые токи, представляющие собой поверхностные и объемные токи утечки. В кремниевых детекторах токи утечки можно снизить до уровня  , а в германии и в соединениях
, а в германии и в соединениях  они обычно на два порядка выше. Темновой ток растет
 они обычно на два порядка выше. Темновой ток растет 
 
с увеличением температуры по закону  , где
, где  — постоянная Больцмана, Т — температура, К.
 — постоянная Больцмана, Т — температура, К. 
Из выражений (4.54) и (4.59) следует, что пороговая детектируемая мощность и соответствующий ей фототок равны: 
 
где  — полоса регистрируемых частот. Для реализации пороговой чувствительности необходимо выбрать такое значение сопротивления нагрузки (входного сопротивления усилителя)
 — полоса регистрируемых частот. Для реализации пороговой чувствительности необходимо выбрать такое значение сопротивления нагрузки (входного сопротивления усилителя)  чтобы тепловые шумы самого сопротивления не превышали напряжения
 чтобы тепловые шумы самого сопротивления не превышали напряжения  Расчет показывает [15], что для кремниевых
 Расчет показывает [15], что для кремниевых  -фотодиодов с темповым током
-фотодиодов с темповым током  должно быть равным 5—50 МОм. При таких значениях сопротивления сильно ограничивается частотный диапазон фотоприемника, поэтому на практике выбираются значительно меньшие сопротивления нагрузки и порог чувствительности определяется шумами первого каскада усилителя.
 должно быть равным 5—50 МОм. При таких значениях сопротивления сильно ограничивается частотный диапазон фотоприемника, поэтому на практике выбираются значительно меньшие сопротивления нагрузки и порог чувствительности определяется шумами первого каскада усилителя. 
В ЛФД спектральная плотность шума определяется выражением [77, 336] 
 
где  — коэффициент, учитывающий случайный характер процесса умножения. Приближенное выражение для
 — коэффициент, учитывающий случайный характер процесса умножения. Приближенное выражение для  имеет вид
 имеет вид 
 
Для кремния  для германия
 для германия  Коэффициент умножения М в принципе можно увеличивать до тех пор, пока шумы фотодетектора не сравняются с шумом усилителя. Однако ток сигнала растет пропорционально М, а шумовой ток — пропорционально
 Коэффициент умножения М в принципе можно увеличивать до тех пор, пока шумы фотодетектора не сравняются с шумом усилителя. Однако ток сигнала растет пропорционально М, а шумовой ток — пропорционально  поэтому имеется оптимальное для отношения сигнал/шум значение коэффициента умножения. Для кремниевых
  поэтому имеется оптимальное для отношения сигнал/шум значение коэффициента умножения. Для кремниевых  оно составляет 80—100. В этом случае ЛФД безусловно более чувствительный детектор, чем
 оно составляет 80—100. В этом случае ЛФД безусловно более чувствительный детектор, чем  -диод, однако необходимо помнить о его недостатках. Первый заключается в том, что ЛФД работают при достаточно высоких напряжениях смещения (80—400 В), тогда как
-диод, однако необходимо помнить о его недостатках. Первый заключается в том, что ЛФД работают при достаточно высоких напряжениях смещения (80—400 В), тогда как  -фотодиод можно запитывать от источников, используемых для обычных полупроводниковых микросхем. Второй существенный недостаток ЛФД состоит в том, что коэффициент лавинного умножения М зависит достаточно сильно от температуры, что зачастую приводит к необходимости термостабилизации.
-фотодиод можно запитывать от источников, используемых для обычных полупроводниковых микросхем. Второй существенный недостаток ЛФД состоит в том, что коэффициент лавинного умножения М зависит достаточно сильно от температуры, что зачастую приводит к необходимости термостабилизации. 
Линейность выходной характеристики  -фотодиода, работающего с обратным смещением, исключительно высока вплоть до величины
-фотодиода, работающего с обратным смещением, исключительно высока вплоть до величины  так что световые мощности, используемые в световодных системах
 так что световые мощности, используемые в световодных системах  не
 не 
 
приводят к насыщению [336]. Первым эффектом, возникающим при возрастании мощности, является уменьшение напряженности электрического поля в обедненной области. Это не уменьшает чувствительности, однако снижает скорость движения носителей и соответственно верхнюю гранйчную частоту детектора. 
Линейность выходной характеристики ЛФД также высока для световых мощностей в диапазоне  При больших уровнях мощности чувствительность снижается из-за накопления пространственного заряда в обедненном слое, приводящего к изменению распределения электрического поля и в результате к снижению коэффициента умножения.
 При больших уровнях мощности чувствительность снижается из-за накопления пространственного заряда в обедненном слое, приводящего к изменению распределения электрического поля и в результате к снижению коэффициента умножения. 
Быстродействие  -фотодиода в пределе определяется временем пролета носителей через обедненный слой. В кремниевых диодах высокий квантовый выход обеспечивается, как уже говорилось, при толщине обедненного слоя
-фотодиода в пределе определяется временем пролета носителей через обедненный слой. В кремниевых диодах высокий квантовый выход обеспечивается, как уже говорилось, при толщине обедненного слоя  мкм, при этом время отклика составляет 0,5 не [77]. Для получения большего быстродействия приходится поступаться чувствительностью.
 мкм, при этом время отклика составляет 0,5 не [77]. Для получения большего быстродействия приходится поступаться чувствительностью. 
Второе ограничение на быстродействие может накладываться постоянной времени детектора  — сопротивление нагрузки; С — емкость диода). Емкость
 — сопротивление нагрузки; С — емкость диода). Емкость  -фотодиода
-фотодиода  где А — площадь перехода;
 где А — площадь перехода;  —диэлектрические постоянные вакуума и полупроводника соответственно. Для кремния
—диэлектрические постоянные вакуума и полупроводника соответственно. Для кремния  . Для серийных диодов обычно
. Для серийных диодов обычно  мкм и
 мкм и   . Учитывая, что для высокочастотных приемников
. Учитывая, что для высокочастотных приемников  Ом, получаем
 Ом, получаем  .
. 
Быстродействие ЛФД ограничивается теми же факторами, однако полное время дрейфа носителей в них примерно в два раза бэльше, чем  -фотодиодов.
-фотодиодов. 
В последнее время быстро возрастает интерес к построению разветвленных многоцелевых волоконно-оптических сетей. Часто встает задача распределения информации между большим числом разного рода приемных устройств. Неизбежные потери в оптических ответвителях приводят к необходимости в этих случаях искать возможности безразрывного детектирования излучения в волоконном световоде. Устройства, выполняющие такие функции, можно назвать проходными фотодетекторами. 
Принцип действия известных схем проходных фотодетекторов [6] состоит в детектировании малой части световой мощности, распространяющейся в оболочке волоконного световода вблизи его сердцевины. В первой конструкции [6], схематически изображенной на рис. 4.26, а, на небольшом участке (~5 мм) волоконного световода отражающая оболочка удалена химическим травлением. На поверхность сердцевины на этом участке нанесен слой полупроводника — аморфного гидрированного кремния. Толщина слоя составляет ~0,5 мкм, расстояние между контактами, расположенными на его поверхности, ~250 мкм. Потери световой 
 
энергии при прохождении через детектор  Устройство работает в режиме фотосопротивления, и быстродействие его поэтому невелико.
 Устройство работает в режиме фотосопротивления, и быстродействие его поэтому невелико. 
В другой конструкции (рис. 4.26, б) пспользуется стандартный  -фотодиод и ограничения на быстродействие проходного фотодетектора не специфичны. Здесь, как и в конструкции, изображенной на рис. 4.26, а (только не полностью), на участке 5— 10 мм удалена оболочка и заменена жидким или твердым (прозрачный клей) иммерсионным слоем, в котором размещена фоточувствительная область
-фотодиод и ограничения на быстродействие проходного фотодетектора не специфичны. Здесь, как и в конструкции, изображенной на рис. 4.26, а (только не полностью), на участке 5— 10 мм удалена оболочка и заменена жидким или твердым (прозрачный клей) иммерсионным слоем, в котором размещена фоточувствительная область  -фотодиода.
-фотодиода. 
 
Рис. 4.26. Проходные фотодетекторы: а — на гидрированном кремнии; б — с  -диодом; 1 — сердцевина волокна, 2 — оболочка, 3 — пленка полупроводника, 4 — контакты, 5 — прозрачный клей;
-диодом; 1 — сердцевина волокна, 2 — оболочка, 3 — пленка полупроводника, 4 — контакты, 5 — прозрачный клей;  -диод
-диод 
Для волоконного световода с диаметром сердцевины 90 мкм и оболочки 240 мкм для надежного детектирования достаточно удалить слой оболочки толщиной 60 мкм. Вносимые детектором потери в этом, случае не превышают 0,2 дБ. 
При измерении характеристики волоконных световодов и заготовок для их производства информация очень часто содержится в пространственном распределении интенсивности светового излучения (см. гл. 5). При этом для преобразования оптической информации в электрический сигнал необходимо использовать многоэлементные фотоприемники или сканировать одиночный фотопрпемнпк. Во втором случае невозможна работа в реальном масштабе времени, к тому же разъюстировки в механических устройствах сканирования приводят к достаточно большим погрешностям измерений. Использование матриц и линеек фотодетекторов (например,  -фотодиодов) с параллельными выходами усложняет ввод информации в вычислительные устройства. Широкие возможности при построении оптико-цифровых систем для волоконной оптики и приборостроения открывают фотоприемники на основе приборов с зарядовой связью (ПЗС) [76]. Многоэлементные фотоприемники ПЗС — линейки и матрицы — совмещают в единой интегральной структуре как светочувствительные элементы, так и регистры сдвига.
-фотодиодов) с параллельными выходами усложняет ввод информации в вычислительные устройства. Широкие возможности при построении оптико-цифровых систем для волоконной оптики и приборостроения открывают фотоприемники на основе приборов с зарядовой связью (ПЗС) [76]. Многоэлементные фотоприемники ПЗС — линейки и матрицы — совмещают в единой интегральной структуре как светочувствительные элементы, так и регистры сдвига. 
В основе работы ПЗС лежат процессы, протекающие в структурах типа металл — окисел — полупроводник (МОП), способных 
 
собирать и накапливать пакеты неосновных носителей в потенциальных ямах на границе  . Через определенные интервалы времени осуществляется перенос зарядовых пакетов путем управляемого перемещения потенциальных ям. В ПЗС-фотоприемниках фоточувствительные элементы (фотодиоды или МОП-конденсаторы) преобразуют интенсивность света в пропорциональные ей заряды, сдвиговые регистры перемещают эти информационные пакеты к общему выходу. Таким образом, осуществляя параллельный съем большого числа световых сигналов, ПЗС позволяет достаточно просто организовать последовательный ввод соответствующих электрических сигналов в ЭВМ.
. Через определенные интервалы времени осуществляется перенос зарядовых пакетов путем управляемого перемещения потенциальных ям. В ПЗС-фотоприемниках фоточувствительные элементы (фотодиоды или МОП-конденсаторы) преобразуют интенсивность света в пропорциональные ей заряды, сдвиговые регистры перемещают эти информационные пакеты к общему выходу. Таким образом, осуществляя параллельный съем большого числа световых сигналов, ПЗС позволяет достаточно просто организовать последовательный ввод соответствующих электрических сигналов в ЭВМ.