§ 7. Освещение диффузной поверхности вспомогательной спекл-структурой

Когда диффузный объект, освещаемый лазером, подвергается продольному смещению (в направлении наблюдения), наблюдаемая в плоскости изображения спекл-структура изменяется мало. Это объясняется слабым изменением дифракционной картины при дефокусировке (гл. 1, § 8).

Рис. 102. Определение продольного смещения диффузного объекта, освещаемого вспомогательной спекл-структурой.

Чтобы повысить чувствительность к продольному смещению, можно применить схему, показанную на рис. 37 (гл. 2, § 8). В данном случае диффузный объект А (рис. 102) освещается спекл-структурой, которую создает матовое стекло О, рассеивающее, свет лазера [166]. Первоначально такая схема была применена для исследования вибраций диффузного объекта [65] (см. ниже).

Пусть диаметр главного максимума дифракционной картины объектива О в плоскости А. Если диаметр пятен

спекл-структуры, создаваемой рассеивателем в плоскости А, имеет порядок величины то продольное смешение объекта А на величину вызывает боковое смещение спекл-структуры, создаваемой рассеятелем на величину где — угол наклона освещающего пучка. При надлежащем выборе угла очень малое продольное смещение будет вызывать нарушение корреляции суммарной спекл-структуры в плоскости Сделав две экспозиции на пластинке одну до, а другую после смещения, можно выявить смещения различных участков объекта путем пространственной фильтрации негатива, описанной ранее.