Глава 10. ДРУГИЕ ПРИМЕНЕНИЯ

§ 1. Дифференциальный интерферометр для прозрачных к объектов, основанный на фоторегистрации спекп-структуры за две экспозиции

Схема дифференциального интерферометра показана на рис. 140 [133, 156]. Перед исследуемым прозрачным объектом А помещается матовое стекло освещаемое лазером. Объектив О формирует изображение А объекта А на фотопластинке . В изображении А объекта А будет наблюдаться спекл-структура, которая представляет собой изображение спекл-структуры, создаваемой рассеивателем в плоскости расположения объекта А. Сделаем две экспозиции, слегка сместив объект в промежутке между экспозициями в направлении, перпендикулярном его плоскости.

Рис. 140. Выявление отклонений от плоскопараллельности прозрачного объекта А посредством спекл-структуры, создаваемой рассеивателем

В той части объекта А, где наклон поверхности объекта равен нулю, это смещение не приведет ни к каким изменениям ни в структуре, ни в положении спекл-структуры в плоскости На тех же участках объекта, где имеется наклон с. (рис. 141), спекл-структура в плоскости сместится в поперечном направлении. Например, на рис. 141 исходная фокусировка в плоскости производится на спекл-структуру, находящуюся в плоскости, проходящей через точку Когда прозрачный объект смещается на величину точка переходит в положение благодаря чему и возникает поперечное смещение спекл-структуры. В плоскости изображения ему соответствует смещение Если — показатель преломления материала исследуемого объекта, угол наклона поверхности объекта, то поперечное смещение будет равно

Сообщив фотопластинке небольшое смещение между экспозициями в ее собственной плоскости, можно наблюдать области с ненулевым наклоном а, если поместить для этого полученный негатив в схему рис. 94.

Рис. 141. Изменение разности хода при малом продольном смещении объекта.

Пространственная фильтрация при помощи щели позволяет удалить в выходном изображении объекта участки, имевшие нулевой наклон.