1.4.2. Спектральная зависимость коэффициента пропускания

При освещении магнитооптического модулятора белым поляризованным светом следует принимать во внимание дисперсию фарадеевского вращения плоскости поляризации и коэффициента поглощения. На рис. 1.13 представлены зависимости коэффициента пропускания от длины волны в «блокирующем» и «пропускающем» режимах для ряда типичных значений угла установки анализатора При смещении в голубую область спектра свет полностью блокируется из-за высокого поглощения. Полная блокировка света с длинами волн более нм достигается только для определенных, зависящих от угла длин волн (например, нм при ).

Наряду с «блокированием» длины волны в данном случае имеет место снижение контраста переключения. Чем больше смещение в красную и инфракрасную области спектра, тем разница между двумя переключающими состояниями становится

Рис. 1.13. Спектральная зависимость коэффициента пропускания света при различных углах установки анализатора в случае неполяризованного света на входе. Толщина слоя магнитооптической пленки мкм.

все меньше и меньше. Чтобы дать представление о средней величине контраста, достигаемого при использовании модулятора для модуляции света с предельной длиной волны можно привести зависимость среднего контраста, которая определяется выражением

и представлена на рис. 1.14. Имеются типичные максимальные значения контраста, зависящие от угла установки анализатора и предельного значения Максимально достижимый контраст уменьшается при увеличении предельного значения длины волны [16].

Для оптимизации модулятора в заданном оптическом диапазоне необходимо также учитывать толщину слоя На рис. 1.15 величина среднего контраста представлена как функция толщины слоя для различных значений Видно, что при оптимальной толщине пленки значение среднего контраста колеблется в диапазоне от 21 до 23. На рис. 1.15 также представлена спектральная зависимость коэффициента пропускания, проинтегрированная по спектральному диапазону от 500 нм до

Данная величина соответствует световой мощности, получаемой на выходе устройства. Световая мощность растет при увеличении толщины слоя, но не безгранично — существуют

Рис. 1.14. Зависимость средней величины контраста от предельного значения длины волны при различных углах установки анализатора (для параметров материала, указанных на рис. 1.10).

Рис. 1.15. Зависимость средней величины контраста С и интегрального коэффициента пропускания Р от толщины магнитооптической пленки для тех же параметров материала, что и на рис. 1.10, и для предельной длины волны нм,

ограничения, накладываемые технологией изготовления. В настоящее время трудно достичь образования доменных структур в магнитооптической пленке при толщине более 5 мкм. Однако в будущем путем усовершенствования технологии могут быть изысканы некоторые возможности для увеличения выходной мощности [16].