ГЛАВА II. УСТРОЙСТВА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН
При рассмотрении параметров электрических цепей применительно к задачам автоматического регулирования и управления будем исходить из математических моделей в форме дифференциальных уравнений. При этом измеряемыми величинами могут быть напряжения, токи, активные сопротивления, емкости, индуктивности, частоты, фазы и различные параметры диэлектрических и ферромагнитных материалов. В отдельных случаях в математических моделях используются вместо напряжений и токов величины магнитных потоков и электрических зарядов.
В системах автоматического регулирования и управления указанные параметры цепей и процессов обычно рассматриваются как функции времени, но иногда, кроме временной зависимости, используются и спектральные свойства отдельных измеряемых величин.
Изменение параметров электрических цепей и процессов часто носит случайный характер. Общепринятый метод описания процессов с параметрами, информация о которых не является полной, строится на использовании вероятностных представлений. Случайно изменяющиеся параметры характеризуются различными средними величинами и функциями, например моментами, корреляционной и характеристической функциями, энтропией и спектральными зависимостями. Устройства для измерений параметров случайных функций составляют большую самостоятельную область и в данной главе не рассматриваются.
Устройства для измерения величин активных сопротивлений R, индуктивностей L и емкостей С достаточно часто применяются в системах автоматического регулирования. Это определяется тем, что во многих случаях требуется управлять величиной данных параметров, а также и тем, что многие параметры неэлектрических процессов и систем однозначно связаны с одним из параметров электрических процессов и управление величиной неэлектрического параметра производится в соответствии с величиной используемого параметра электрической цепи. Например, изменение температуры создает изменение активного сопротивления медной проволоки и регулирование температуры какого-либо процесса может производиться по величине сопротивления.
Устройства для измерения параметров 
и С обычно создаются на основе использования электрических мостиковых или дифференциальных схем. Такие схемы позволяют в ряде случаев нейтрализовать влияние добавочных внешних воздействий (помех) и получить более высокую точность в определении параметров.
