Пред.
След.
Макеты страниц
Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике ДЛЯ СТУДЕНТОВ И ШКОЛЬНИКОВ ЕСТЬ
ZADANIA.TO
Приложение В. Дифракция рентгеновских лучей на кристаллах. Эквивалентность условия Лауэ и концепции отражения БрэггаПрямоугольный параллелепипед на рис. В. 1 изображает ячейку кристаллической решетки, в которой каждый узел решетки представлен идентичной группой атомов. В разд. 2.7 отмечалось, что дифракционные рентгеновские максимумы возникают в данном направлении от кристалла
Рис. В. 2. Отражение волнового фронта рассеивающими центрами, лежащими в одной плоскости. с такой решеткой, если рентгеновские лучи, рассеянные в этом направлении группами атомов, связанных с каждым из узлов решетки А, В и С, совпадают по фазе с излучением, рассеянным группой, связанной с узлом 0. Условия Лауэ [уравнение (2.18)] формулируют это требование, а именно
где Объясняя то же самое явление отражением, Брэгг отмечал, что требование совпадения по фазе рассеянных в А, В и С лучей аналогично оптическому отражению в зеркале с точками А, В, С на его поверхности: при любом угле падения отражение происходит под углом, равным углу падения (рис. В. 2). Как объяснял Брэгг, эта связь отраженной и падающей волн приводит к тому, что волны, рассеянные всеми точками в двух пространственных направлениях относительно плоскости решетки, совпадают одна с другой по фазе. Однако в противоположность отражению в оптике, при падении рентгеновских лучей на плоскость кристаллической решетки амплитуда отраженного пучка составляет очень малую долю от амплитуды падающего пучка. Большая часть излучения проходит через кристалл. Кроме того, лучи, отраженные от последующих плоскостей решетки, параллельных первой, в общем случае не будут совпадать по фазе один с другим. Усиление, однако, можно получить путем подбора угла падения. Как показано на рис. В. 3, для этого требуется, чтобы разность пути
Рис. В. 3. Отражение волнового пакета последовательными плоскостями кристаллической решетки, разделенными расстоянием d.
где d - расстояние между рассматриваемыми плоскостями решетки, а целое число n - «порядок» отражения. Это знакомое нам уравнение Брэгга, а особые значения углов скольжения 0 называют «углами Брэгга». При выполнении условия, выраженного указанным уравнением, рентгеновские волны от всех узлов кристаллической решетки усиливают друг друга; при других углах падения интерференция приводит к снижению интенсивности. Как со свойственной ему проницательностью отмечал Брэгг, это уравнение «представляет собой разновидность знакомого соотношения в оптике, которое определяет цвета при отражении от тонких пленок» (Брэгг, 1975). Для установления эквивалентности интерпретаций Лауэ и Брэгга и нахождения отражающих плоскостей, которые соответствуют конкретным значениям Построим на рис. В. 1 плоскость АВС, такую, что Более удачный вид АВС для очередного шага рассуждений показан на рис. В.4,а, где показана также часть следующей плоскости решетки,
Рис. В. 4. параллельной АВС и проходящей через О. Теперь можно снова обратиться к уравнениям Лауэ. При подстановке
Вычитание второго из первого дает
т.е. направление S перпендикулярно ВА. Вычитание других пар в. уравнении (В. 03) показывает, что S также перепендикулярно Поскольку узлы в плоскости АВС дают при рассеянии разность пути в одну длину волны по сравнению с узлами в параллельной плоскости, проходящей через О, то мы также получаем картину Брэгга с усилением излучения, рассеянного на последовательных плоскостях решетки. Если к АВС, которые Брэгг обозначил
С учетом первого из уравнений Лауэ это дает
Согласно рис.
равно d в уравнении Брэгга при Таким образом, мы показали следующее: во-первых, рассеянные рентгеновские лучи, дающие в соответствии с уравнениями Лауэ дифракционный максимум, испытывают также и отражение, аналогичное оптическому, причем отражаются они в плоскостях структуры решетки, определяемых величинами
|
1 |
Оглавление
|