5.5. Пеленгационные характеристики сферической решетки
Наиболее важными характеристиками в сканирующих ФАР РЛС являются пеленгационная характеристика и ее линейность, которые в конечном счете определяют точностные характеристики системы. При сканировании в секторе углов, не превышающем 
пеленгационные характеристики плоских ФАР мало изменяются. При широкоугольном сканировании, превышающем ±45°, в плоских ФАР, получивших наибольшее распространение, с отклонением луча уменьшается КНД антенной решетки и расширяется луч, что приводит к изменению пеленгационных характеристик. На эти характеристики также влияет АФР и относительные (по отношению к длине волны) размеры решетки. Особый интерес представляет рассмотрение сканирования в пределах ранее рассмотренных желаемых секторов и формирование моноимпульса при движении луча в этих же пределах
Изменение пеленгационных характеристик на первом этапе удобно рассматривать, используя понятие эквивалентного излучающего раскрыва. 
эквивалентного круглого раскрыва определяется выражением [5]
где 
радиус апертуры; 
координаты точек в раскрыве; 
- амплитудное распределение поля в раскрыве.
Для формирования суммарной 
применяют спадающее к краям распределение поля в раскрыве
для которого суммарная нормированная 
круглого раскрыва записывается в виде
Для формирования разностной 
применяют распределение
где 
— координаты точек в раскрыве; 
коэффициенты, характеризующие распределение поля, при этом разностная 
в плоскости 
определится по формуле [5]
где 
— гамма-функция, 
— биномиальные коэффициенты.
На рис. 5.14 показаны нормированные разностные 
эквивалентного раскрыва вблизи равносигнального направления.
Рис. 5.14. Разностные 
вблизи равносигнального направления в зависимости от угла раскрыва возбуждаемой части
В равносигнальном направлении 
крутизна разностной 
определяется в соответствии с выражением [5]
На рис. 5.15 показана нормированная зависимость крутизны разностной 
эквивалентного раскрыва от угла раскрыва возбуждаемой части в равносигнальном направлении.
(кликните для просмотра скана)
Разностные ДН (рис. 5.16) сферической решетки не изменяются при сканировании в секторе 
. При 
для уменьшения искажения разностной 
необходимо создать амплитудное распределение, соответствующее эллиптической форме эквивалентного раскрыва.
I Три сканировании размер малой оси эллипса меняется в зависимости от угла раскрыва возбуждаемой части по формулам (5.11), (5.13) или (5.15). Для определения моноимпульсных характеристик на первом этапе можно заменить эквивалентный эллиптический раскрыв плоским раскрывом с размером 
в вертикальной плоскости.
Нормированная разностная 
решетки запишется в виде:
при возбуждении сектора 
при возбуждении сектора 
при возбуждении сектора 
