Пред.
След.
Макеты страниц
Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике 1. Дифракцшонная решетка – важнейший спектральный прибор, предназначенный для разложения света в спектр и измерения длин волн. Она представляет собой плоскую стеклянную или металлическую поверхность, на которой делительной машиной нарезано очень много (до сотен тысяч) прямых равноотстоящих штрихов. На стеклянных решетках наблюдения можно производить как в проходящем, так и в отраженном свете, на металлических – только в отраженном. Применяются вогнутые металлические решетки, в которых штрихи наносятся на вогнутой сферической поверхности. Сначала рассмотрим простейшую идеализированную решетку, состоящую из одинаковых равноотстоящих параллельных щелей, сделанных в непрозрачном эжране. Ширнну щели обозначим через $b$, ширину непрозрачной части экрана между двумя соседними щелями – через $a$. Величина $d=a+b$ называется периодом решетки. В решетке осуществляется многолучевая интерференция когерентных дифрагированных пучков света, исходящих от щелей решетки при ее освещении. Дифракционная картина наблюдается по методу Фраунгофера, т.е. либо на бесконечно удаленном экране, либо в фокальной плоскости линзы, поставленной на пути дифрагированного света. Пусть на решетку перпендикулярно к ее поверхности падает плоская монохроматическая волна (рис. 182). Разность хода между вторичными волнами, исходящими из соседних щелей решетки, будет $d \sin \vartheta$, а разность фаз $\delta=k d \sin \vartheta=\frac{2 \pi}{\lambda} d \sin \vartheta$, где $\vartheta-$ угол дифракции. Обозначим через $E_{1}$ поле в точке наблюдения, излучаемое первой щелью. Оно определяется формулой $E_{1}=$ $=b \frac{\sin \alpha}{\alpha}$. Поля, излучаемые остальными щелями, представятся выражениями: где $N$ – общее число щелей. Полное поле, излучаемое всеми щелями, представится суммой откуда где $A_{1}$ – вещественная амплитуда волны от одной щели, $A$ – от всей решетки. Для интенсивностей получаем Формулы (46.1) и (46.2) – основные в теории дифракционной решетки. Тот же результат получается в случае $\delta / 2=m \pi$, т. е. при В направлениях, определяемых этим условием, получаются максимумы, интенсивность которых в $N^{2}$ раз превосходит интенсивность волны от одной щели в том же направлении. Они называются главными максимумами. Целое число $m$ называют порядком глаеного максимума или порядком спектра. Условие (46.4) определяет направления, в которых излучения от всех щелей решетки приходят в точку наблюдения в одинаковых фазах, а потому усиливают друг друга. В таких направлениях при отдельных значениях $m$ могут и не возникнуть максимумы. Это будет, когда $I_{1}=0$, т. е. в направлениях на дифракционные минимумы от одной щели. Например, если $a=b$, то все главные максимумы четных порядков не появятся. Действительно, условие появления главного максимума порядка $2 n$ имеет вид $d \sin \vartheta=2 n \lambda$. При $\dot{d}=2 b$ оно переходит в $b \sin \vartheta=$ $=n \lambda$, т. е. в условие дифракционного минимума на щели. Таким образом, в рассматриваемом направлении ни одна щель, а потому и решетка в целом не излучают. В соответствующих направлениях получаются дифракционные минимумы, в которых интенсивность света равна нулю. Между двумя соседними минимумами получается максимум. Такие максимумы называются второстепенными или добавочными. Между двумя соседними главными максимумами располагается ( $N-1$ ) минимумов и ( $N-2$ ) добавочных максимумов. На эти максимумы и минимумы накладываются,минимумы, возникающие при дифракции от отдельной щели, в которых функция $E_{1}$ обращается в нуль. Второстепенные максимумы находятся примерно посередине между соответствующими дифракционными минимумами. Величину $\delta$, определяющую направление на какой-либо из второстепенных максимумов, можно поэтому вычислить по приближенной формуле или Пользуясь этой формулой, найдем приближенное выражение для интенсивности второстепенных максимумов в окрестности соответствующего главного максимума (т. е. при малых $p$ ). В положениях второстепенных максимумов числители в формуле (46.2) равны единице. Если число щелей решетки $N$ очень велико, а номер второстепенного максимума $p$ невелик, то угол $\delta / 2$ будет мал, и можно положить Это дает Таким образом, интенсивности главного максимума и ближайших к нему второстепенных максимумов находятся в отношениях Второстепенные максимумы слабы по сравнению с главными , максимумами. При большом числе щелей они обычно не играют роли. Второстепенные максимумы создают более или менее равномерный слабый фон, на нем выступают узкие и резкие главные максимумы, в которых концентрируется практически весь дифрагированный -свет. Распределение интенсивности в дифрагированном свете представлено на схематическом рисунке 183 для $N=8$. Величина множителя $I_{1}$, входящего в формулу (46.2), не указана. Между соседними главными максимумами находится $N-2=6$ второстепенных максимумов. Относительные интенсивности главных и второстепенных максимумов представляются числами $100 ; 5,0 ; 2,25 ; 1,6 ; 1,6$; 2,$25 ; 5,0 ; 100$. Красивую демонстрацию можно получить, направив на решетку яркий узкий пучок света от лазера. При дифракции пучок расщепляется на много хорошо видимых в воздухе ярких пучков, веерообразно расходящихся от решетки. Падая на потолок и стены аудитории, эти пучки оставляют на них яркие светлые пятна (световые зайчики). Рис. 183, что таким путем получается условие дифракционного минимума (46.5). Все это проиллюстрировано на рис. 185 для $N=3$ и на рис. 186 для $N=4$. а дифракционных минимумов – условием Зная положение главных максимумов, можно вычислить длину волны по формуле (46.4) или (46.8). Решетка есть прибор для измерения именно длины волны, а не частоты колебаний, как это иногда неверно утверждают. Под дифракционной решеткой в широком смысле слова понимается всякая структура, обладающая пространственной периодичностью. Если свойства структуры периодически меняются только в одном направлении, то решетка называется одномерной или линейной. Если же периодичность решетки имеет место в двух или трех направлениях, то решетка называется соответственно двух- или трехмерной. В последнем случае ее называют также пространственной. В этом и следующих параграфах рассматриваются только линейные решетки. Не обязательно, чтобы при прохождении через решетку менялась амплитуда волны. Существенно только, чтобы на выходе решетки периодически менялось волновое поле в целом. Можно различать два крайних идеализованных случая. 1) Решетка вносит периодические изменения в амплитуду волны, не влияя на ее фазу. Такая решетка называется амплитудной. 2) Решетка вносит периодические изменения в фазу волны, но не влияет на ее амплитуду. Такую решетку называют фазовой. Всякая реальная решетка, строго говоря, не является чисто амплитудной или чисто фазовой. Она периодически меняет на выходе как амплитуду, так и фазу волнового поля. Приблизительно амплитудной решеткой является рассмотренная выше совокупность равноотстоящих щелей в непрозрачном экране (рис. 187). Приближением фазовой решетки может служить стеклянная пластинка, представленная на рис. 188. В обоих случаях период решетки должен быть велик по сравнению с длиной волны. Примером фазовой отражательной решетки может служить решетка, изготовленная С. М. Рытовым (р. 1908) и И. Л. Фабелинским (р. 1911). Она представляет собой равнобочную стеклянную призму с преломляющим углом $90^{\circ}$ (рис. 189). На гипотенузной поверхности $A B$ напылены узкие равноотстоящие полоски серебра, параллельные преломляющему ребру призмы. Свет падает нормально на одну из боковых граней призмы. Попадая на гипотенузную грань $A B$, он испытает либо полное отражение от непосеребренных полосок, либо отразится от посеребренных полосок. В последнем случае отражение также практически полное благодаря высокому коэффициенту отражения серебра. В обоих случаях отражение сопровождается изменением фазы, но эти изменения разные (см. 66 и 73). Таким образом, амплитуда волны при отражении не меняется, а в фазу вносятся периодические изменения. 7. Не все целые числа $m$, входящие в формулы (46.4) и (46.8), допустимы. Так как $|\sin \vartheta|<1$, то на $m$ должно быть наложено ограничение В частности, при нормальном падении При $d<\lambda$ может возникнуть только главный максимум нулевого порядка. Плоская волна после прохождения через решетку продолжает оставаться плоской, и никаких боковых волн не возникает. Решетка ведет себя подобно плоскопараллельной пластинке. Но это справедливо только вдали от решетки. В тонком поверхностном слое вблизи решетки существуют неоднородные волны, быстро затухающие при удалении от нее (см. §52). На очень грубых решетках обнаружить дифракцию трудно из-за малости углов дифракции ( $\left.\vartheta-\vartheta_{0}\right)$. Но этого можно добиться, применяя скользящее падение света, когда угол падения близок к 90․ При малой разности ( $\vartheta-\vartheta_{0}$ ) формулу (46.8) можно переписать в виде По виду формула (46.13) совпадает с формулой (46.12). Роль периода $d$ играет величина $d \cos \vartheta_{0}$, которая может быть сделана очень малой Следовательно, скользящее падение как бы уменьшает период решетки и увеличивает углы дифракции. Таким путем удается получать отчетливые дифракционные спектры даже от очень грубых решеток, например от граммофонных пластинок. Последние позволяют в демонстрационной аудитории получать в белом свете даже довольно красивые дифракционные спектры разных порядков. Большое значение метод скользящего падения имеет в рентгеновской спектроскопии. Изготовление дифракционной решетки для рентгеновской области спектра встречает большие трудности из-за исключительной малости длин рентгеновских волн (порядка 0,1 нм и меньше). Но метод скользящего падения позволяет получать великолепные дифракционные картины в рентгеновском свете от обычных отражательных оптических решеток. Задача облегчается тем, что показатель преломления рентгеновских лучей меньше единицы. Это позволяет применять такие углы падения, при которых рентгеновские лучи испытывают полное отражение. Таким образом, $[\Gamma \pi .1 \mathbb{Z}$ с помощью оптической дифракционной решетки можно точно измерить длину волны монохроматического рентгеновского излучения. Изучая далее дифракцию этого излучения на естественном кристалле, можно измерить в абсолютных единицах постоянную решетки этого кристалла. После этого такой кристалл может быть использован в рентгеновском спектрографе для измерения длин волн рентгеновских лучей в абсолютных единицах (см. §61). Решение. Если $I_{0}$ – интенсивность света, сосредоточенного в максимуме нулевого порядка, а $I_{\text {диф }}$ – дифрагированного света, то $I_{\text {прош }}=I_{0}+I_{\text {диф }}$, где $I_{\text {прош }}$ – интенсивность прошелего света. Аналогично, для дополнительной решетки $I_{\text {прош }}^{\prime}=I_{0}^{\prime}+I_{\text {диф }}^{\prime}$. По теореме Бабине $I_{\text {диф }}=I_{\text {диф }}^{\prime}$. Кроме того С учетом этого получаем Максимум этого выражения достигается при $b=1 / 2 d$, а потому $I_{\text {диф }} \leqslant 1 / 4 I_{\text {пад }}$. Здесь $a$ может принимать любые значения, Поэтому, если $\vartheta^{\prime} Из этих двух соотношений находим $\Delta \vartheta_{1}$ и $\Delta \vartheta_{2}$, а после этого – расстояние между максимумами: Ғезультат можно упростить, заметив, что углы $\vartheta_{1}$ и $\vartheta_{2}$ мало отличаются от угла падения $\mathfrak{v}_{0}$, соответствующего зеркальному отражению. Заменив эти углы на $\vartheta_{0}$, находим При этом Подстановка численных значений дает $\Delta x=1$ см.
|
1 |
Оглавление
|