Пред.
След.
Макеты страниц
Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике ДЛЯ СТУДЕНТОВ И ШКОЛЬНИКОВ ЕСТЬ
ZADANIA.TO
§ 3. Изменение амплитуды и фазы в одномерном случаеВ данном параграфе мы покажем, как влияет форма F (Р) на величину
(см. скан) Фиг. 6.2. и выполняя элементарное интегрирование, получаем кривые, показанные на фиг. 6.2, б. По кривым видно, что контраст увеличивается в области низких частот и уменьшается в области высоких частот. Обратная картина наблюдается, если распределение прозрачности апертуры имеет вид, представленный на фиг. 6.3, а. Фиг. 6.3, б показывает, каким образом можно увеличить контраст для мелких деталей, если затемнить центральную часть апертуры. Подчеркнем, что кривые представлены в нормированном виде, и поэтому по ним нельзя оценить потерь в полной освещенности, обусловленных наличием покрытия. Возвращаясь теперь к фазовым изменениям, легко заметить, что при
где 1. 2. (см. скан) Фиг. 6.3. смещается все изображение. В то же время такая аберрация, как дисторсия, линейна относительно 3.
Теперь приведем систему координат к центру перекрывающейся области
Производя интегрирование, получаем
где
2а — ширина отверстия. Интересно отметить (см. фиг. 6.4, в), как быстро падает контраст после того, как достигнут релеевский допуск (см. скан) Фиг. 6.4. (см. скан) Фиг. 6.4. (продолжение) так, как и следует ожидать, если пренебречь дифракцией и предположить на основании чисто геометрических соображений, что световой поток распределен равномерно в пятне шириной 4.
где
и
Типичная кривая представлена на фиг. 6.4, г. Заметим, что не следует пренебрегать эффектом нелинейного фазового отклонения. На фиг. 6.4, д представлено распределение освещенности в изображении для двух систем, которые характеризуются одинаковым ослаблением амплитуд, но в первой из которых — линейное фазовое отклонение, а во второй — фазовое отклонение, показанное на фиг. 6.4, г. В первом случае наблюдатель, вероятно, догадается, что объект представляет собой квадратноволновой тест, но во втором случае он может быть введен в заблуждение из-за того, что гармоники суммировались не в фазе. Таков тип фазовой ошибки, связанной с комой. 5. аберрации третьего порядка наилучший фокус для всех частот лежит посредине между фокусом для крайних лучей и параксиальным фокусом. При больших аберрациях кривые пересекаются, и понятие «наилучшего фокуса» зависит, помимо прочего, от структуры объекта и от того, для каких целей будет использован оптический прибор.
|
1 |
Оглавление
|