13. ЛАВИННЫЕ ФОТОДИОДНЫЕ ДЕТЕКТОРЫ
13.1. ЛАВИННОЕ УМНОЖЕНИЕ НОСИТЕЛЕЙ
13.1.1. Общие сведения
В гл. 12 рассматривалась природа шумов, вносимых фотодиодом в приемную систему. В гл. 14 убедимся, что в случае
-диодов — это тепловой шум и темновой ток, которые подавляются электронным шумом нагрузки и усилителя. Поэтому можно было бы увеличить отношение сигнал-шум, если бы удалось добиться умножения сигнала в самом детекторе. Конечно, при этом умножится и тепловой шум детектора, но суммарный эффект останется положительным. Как уже было упомянуто в гл. 12, такое умножение можно получить в лавинном процессе при высоких значениях электрического поля. Однако сам процесс умножения не свободен от шума. Положим, что каждый фотоноситель порождает в конце процесса умножения в среднем
носителей. Любой инициирующий лавину носитель может привести к появлению в результате умножения большего или меньшего
числа носителей. Статистическая природа этого процесса приводит к возрастанию шума. В результате одновременно с возрастанием в
раз сигнального тока в
раз увеличивается среднеквадратическое значение уровня шума. Шум-фактор
практически всегда больше единицы и растет с ростом
Следовательно, для любого лавинного диода в конкретном приемнике имеется оптимальная величина
при которой достигается наилучшее отношение сигнал-шум. Эти вопросы будут подробно рассмотрены в гл. 14. Здесь же остановимся на физических механизмах процесса умножения и принципах разработки приборов с оптимальными характеристиками.
Рисунок 13.1 иллюстрирует два различных процесса генерации лавинного тока. На рис. 13.1, а на схеме зонной структуры показано, как в электрическом поле рождаются электрон-дырочные пары. Хотя средние дрейфовые скорости носителей остаются в области насыщения
в энергетических распределениях появляются высокоэнергетические хвосты, обусловленные ускорением между столкновениями. В достаточно сильном поле заметное число носителей приобретает энергию порядка
что дает возможность вызвать переход через запрещенную зону. Рождающаяся при этом электрон-дырочная пара может участвовать в процессе последующих возбуждений. На рис. 13.1, 6 схематически показано, как одна полученная в результате фоторождения электрон-дырочная пара приводит к появлению шести новых пар.

(кликните для просмотра скана)
Можно ввести коэффициенты ионизации соответственно для электронов и дырок
как вероятность возбуждения данным носителем электрон-дырочной пары на единичном расстоянии. Эти коэффициенты быстро возрастают с ростом напряженности электрического поля, поэтому зачастую удобно пользоваться полем пробоя Епроб, при котором лавинное возбуждение становится критическим (скажем, а становится порядка
Зависимость
от электрического поля для некоторых полупроводников, перспективных для использования в качестве фото детекторов, приведена на рис. 13.2. Эти графики соответствуют комнатной температуре. При повышении температуры значения коэффициентов ионизации уменьшаются, поскольку увеличивается число столкновений, понижающих высокоэнергетические хвосты в распределении энергии носителей, и, следовательно, уменьшается вероятность ионизации. Есть материалы, в которых
в других
а в арсениде и фосфиде галлия оба коэффициента приблизительно равны. Величина отношения
составляет 0,01 — 100. В предположении, что
зависят только от напряженности электрического поля
можно считать, что в пределах среднего расстояния между ионизирующими столкновениями
изменение
мало; б) число упругих столкновений велико, так что устанавливается равновесное распределение по скоростям; в) потенциальная энергия носителя велика по сравнению с энергией ионизации
Если ионизация вызывается только носителями одного типа, скажем, электронами
то лавина развивается более простым путем, который иллюстрируется рис. 13.1, в. На интервале, значительно превышающем
число электронов растет экспоненциально. В реальных материалах
что соответствует частичной положительной обратной связи в процессе умножения. В результате появляется неопределенность в теоретическом расчете числа электрон-дырочных пар на конечном интервале. (Этот процесс аналогичен пробою Таунсенда в газе, но несколько сложнее. В газе первичный электрон рождает ионы и электроны. Ионы падают на отрицательный электрод, где они с конечной вероятностью вызывают эмиссию вторичных электронов. Если первичный электрон произведет достаточное количество ионов, чтобы в результате эмиссии появилось не менее одного электрона, ток может неограниченно нарастать и наступит пробой. На практике при этом устанавливается новая форма разряда, соответствующая большему току и меньшему напряжению.)
13.1.2. Теория лавинного умножения
Рассмотрим лавинное умножение в полупроводнике, находящемся в стационарном состоянии, причем электронный ток
инжектируется в обедненный слой размером
в плоскости
Будем
предполагать, что напряженность поля достаточно велика, чтобы вызвать лавину, но число тепловых и фотоносителей незначительно. Несколько также убедимся, что эти допущения вполне реальны для лавинных фотодиодов, изготовленных из материалов типа кремния, в которых
В некоторой точке такой, что
скорость генерации носителей
где
электронный и дырочный ток в точке х. В каждой точке
Если при
отсутствует инжекция дырок
то
Подставив (13.1.3) в (13.1.2), получим
Интегрирование этого уравнения 1 даст
Можно определить коэффициент умножения для инжектированных электронов
непосредственной подстановкой в (13.1.5). Перестановка дает
Используя тот факт, что
получим
Условие пробоя
Если в анализе учесть генерацию носителей
и инжекцию дырок
то получим выражения, подобные (13.1.10), но несколько более сложные. Однако условие пробоя (13.1.11) остается тем же самым. При
т. е.
уравнения упрощаются, и тогда общий ток
Однако при этих условиях
значения
резко зависят от напряженности электрического поля и меняются поперек площади диода, если имеются слабые изменения распределения примеси. Этот эффект усиливается, когда лавина возбуждается «неправильными» носителями — электронами в материале с
или дырками в материале с
Анализ существенно упрощается, если можно считать, что лавина возбуждается в области с однородным электрическим полем. Тогда
зависят от х, и выражение (13.1.10) приобретает вид
Тогда при
13.1.3. Экспериментальное поведение
При напряжении, близком к пробойному Упроб, когда
удовлетворяют условию (13.1.11), рост
ограничивается двумя факторами. Во-первых, это последовательное сопротивление полупроводника
между переходом и выводами диода. Во-вторых, это рост температуры, связанный с увеличенным выделением тепла при возрастании тока. При этом уменьшаются
и увеличивается пробойное напряжение. Одновременно возрастает скорость тепловой генерации носителей и темновой ток. Коэффициент умножения связан с приложенным напряжением V
где
сумма сопротивления полупроводника
и сопротивления
обусловленного ростом температуры. Степенной показатель
зависит от конструкции и материала диода. Некоторые типичные зависимости
для кремниевого лавинного фотодиода показаны на рис. 13.4, б.