Главная > Основы анализа поверхности и тонких пленок
НАПИШУ ВСЁ ЧТО ЗАДАЛИ
СЕКРЕТНЫЙ БОТ В ТЕЛЕГЕ
<< Предыдущий параграф
Пред.
След.
Макеты страниц

Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше

Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике

ДЛЯ СТУДЕНТОВ И ШКОЛЬНИКОВ ЕСТЬ
ZADANIA.TO

ПРИЛОЖЕНИЕ 10. ФИЗИЧЕСКИЕ ПОСТОЯННЫЕ, ПОЛЕЗНЫЕ КОМБИНАЦИИ И СООТНОШЕНИЯ ЕДИНИЦ

Физические постоянные

Полезные комбинации

Соотношения единиц

Литература

1. Ziegler J.F., Chu W.K., Atomic and Nucl. Data Tables, 13, 481 (1974).

2. Siegbahn K. et at., ESCA, Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy, Almquist and Wiksells, Uppsala, 1967. [Имеется

перевод: Зигбан К., Нордлинг К. и др. Электронная спектроскопия. — М.: Мир, 1971.]

3. Bearden J.A., Rev. Mod. Phys., 39, 78 (1967).

4. Cullity B.D. Elements of X-ray Diffraction, Addison-Wesley, Reading, MA, 1978.

5. International Tables for X-ray Crystallography, Kynoch Press, Birmingham, England, 1952, v. 3, pp. 46—56, v. 4, pp. 51—66.

6. Metals Handbook, American Society for Metals, Cleveland, 1948.

7. Chu W.K., Mayer J. W., Nicolet M. A., Backscattering Spectroscopy, Academic Press, New York, 1987.

8. Woldseth R., X-ray Energy Spectrometry, Kevex Corporation, Burlingame, CA, 1973.

МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ

(см. скан)

(см. скан)

1
Оглавление
email@scask.ru