Пред.
След.
Макеты страниц
Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике ДЛЯ СТУДЕНТОВ И ШКОЛЬНИКОВ ЕСТЬ
ZADANIA.TO
10.5.2. Вывод мощности в XcF*-лазереВ табл. 7 приведены наилучшие из известных в литературе на настоящее время характеристики которые имеет Таблица 7. Характеристики
Таблица 8. Характеристики
Собственное поглощение активной среды XeF-лазера изучали авторы работ [18, 19, 89]. В табл. 9 представлены экспериментальные и теоретические сечения поглощения для частиц, которые в основном определяют поглощение в газовых смесях XeF-лазера, накачиваемого электронным пучком. На рис. 23 показаны для сравнения измеренные коэффициенты поглощения смесей, обогащенных Таблица 9. Сравнение экспериментальных и теорерических сечений поглощения молекулярных ионов инертного газа на длине волны 340 нм при температуре
ионами
Рис. 23. Собственное поглощение активной среды в смесях XeF-лазера, накачиваемого электронным пучком, обогащенных На рис. 24 показаны потенциальные кривые для связанных верхнего и нижнего уровней XeF-лазера. При температуре 300 К основным лазерным переходом является Согласно точному численному расчету, основанному на решении скоростных уравнений для верхнего и нижнего уровней, кпд вывода излучения можно записать в виде [90]
где
Рис. 24. Схематическая диаграмма потенциальных кривых для верхнего и нижнего уровней XeF. В случае когда уровня На рис. 25 приведены спектры проинтегрированного по времени бокового излучения XeF-лазера в смесях В противоположность эксимеру KrF нижний уровень XeF является связанным с энергией около 0,15 эВ. В стационарных условиях при температуре окружающей среды молекула XeF в основном состоянии диссоциирует на Хе и F. Однако конечное время жизни нижнего уровня ограничивает кпд лазера благодаря третьему множителю выражения (24). Дази и Шуи [27] вычисляли константы скорости диссоциации различных колебательных уровней основного состояния XeF в смесях, обогащенных Ne, при (кликните для просмотра скана) Уменьшение кпд за счет конечного времени жизни нижнего уровня можно понять из схематической диаграммы, приведенной на рис. 26. В случае отталкивательного нижнего уровня при Экспериментально влияние нижнего связанного состояния на характеристики лазера можно исследовать, наблюдая боковую флуоресценцию в условиях лазерной генерации и без нее. С помощью скоростных уравнений для верхнего и нижнего уровней можно показать, что справедливо следующее равенство:
где На рис. 27 показано изменение отношения (кликните для просмотра скана) (кликните для просмотра скана) видим, что это отношение выходит на насыщение, подтверждая тем самым предположение о влиянии конечного времени жизни состояния XeF(A) на кпд лазера. Сплошная кривая на рисунке получена с помощью соотношения (25) и представляет собой наилучшую подгонку к экспериментальным данным. Из рис. 27 получаем Возрастание температуры газовой смеси приводит также к изменению в спектре лазерного излучения [50]. При комнатной температуре лазер излучает главным образом в полосе с центром при 353 нм. Наблюдается также слабая лазерная генерация вблизи 351 нм. С ростом температуры интенсивность излучения при 351 нм увеличивается. Кроме того, интенсивность излучения в этой полосе имеет два максимума, разделенные расстоянием 0,1 нм, как показано на рис. 29. При более высокой температуре возникает сильное лазерное излучение на переходах Литература(см. скан) (см. скан) (см. скан) (см. скан)
|
1 |
Оглавление
|