Пред.
След.
Макеты страниц
Распознанный текст, спецсимволы и формулы могут содержать ошибки, поэтому с корректным вариантом рекомендуем ознакомиться на отсканированных изображениях учебника выше Также, советуем воспользоваться поиском по сайту, мы уверены, что вы сможете найти больше информации по нужной Вам тематике ДЛЯ СТУДЕНТОВ И ШКОЛЬНИКОВ ЕСТЬ
ZADANIA.TO
13.8. Дисперсионные устройства типа дифракционных решетокДисперсионные УЛЗ, рассмотренные в предыдущих разделах, работают на принципе направленного распространения волн, но это не единственно возможный принцип построения дисперсионных устройств. Проведенные недавно исследования показали наличие дисперсионных свойств у ультразвуковых устройств типа дифракционных решеток. Они описаны в работах Дункана и Паркера [24] и Коквнна и Шу [25].
Рис. 13.23. Перпендикулярная дифракционная линия задержки: а — геометрические характеристики; б - характеристики интерференции сигналов. По оси х находится решетка Дисперсионные свойства этих приборов возникают вследствие создания эффективного пути задержки при распространении волны от входной решетки к выходной решетке преобразователей. Время задержки волны при этом зависит от частоты, хотя само по себе распространение волны в среде определяется недисперсионной поперечной модой. Примером УЛЗ типа решетки такого вида является перпендикулярная дифракционная линия задержки, описанная Коквином и Шу. Общий вид этого устройства показан на рис. 13.23, а. Оно представляет собой решетку из на двух перпендикулярных друг другу сторонах образца, в которой распространяются ультразвуковые волны (например, алюминий). В нем Коквин и Шу рассмотрели основные свойства перпендикулярной дифракционной линии задержки с помощью интерференционного анализа 1. Обратимся теперь к рис. 13.23, б. Источники
Аналогично, для приемников
Для частоты
где
будут передавать с максимальной эффективностью сигналы, имеющие полосы частот с центрами на частотах соответствии с равенством (13.30), что приводит к линейной зависимости задержки от частоты, имеющей вид
Коэффициент
Важно, чтобы ни один из интересующих нас порядков не перекрывался по частоте. Для геометрии, показанной на рис. 13.23, б, это условие удовлетворяется для первых
Для рассматриваемого случая, когда источники и приемники находятся на равном расстоянии относительно основных точек
Из (13.34) получаем общее соотношение для расположения элементов источника и приемника:
Свойства перпендикулярно-дифракционных линий задержки, найденные с помощью интерференционного анализа, можно, используя равенства Центральная частота
Ширина полосы
Дисперсионная задержка
Произведение длительности на ширину полосы
Коэффициент С может быть записан в виде
Таким образом, при заданных Условие отсутствия перекрывания порядков и выражения (13.33) и (13.40) позволяют получить соотношение
Из (13.36) находим
личины На практике было обнаружено, что существует оптимальное значение Коквин и Шу выполнили более строгий анализ, основанный на дифракционной теории, который подтвердил результаты, полученные с помощью интерференционного анализа. На основании проведенного рассмотрения были найдены типичные характеристики отклика для моды первого порядка, которые показаны на рис. 13.24. Отклонение характеристики задержки от линейной для (см. равенства (13.36) - (13.38)]. Ошибка задержки уменьшается при увеличении Таким образом, здесь мы имеем значительное улучшение по сравнению с ошибками задержки, которые могут быть получены с помощью других методов построения УЛЗ или линий с сосредоточенными параметрами. Это гарантирует очень малые паразитные сигналы. Они могут появляться вследствие отражений от других поверхностей устройства. Результаты испытаний на низкочастотных устройствах показывают, что этот уровень ошибок задержки может быть достигнут и практически. Вносимые потери перпен-дикулярно-дифракционных линий задержки могут составлять 30 дб или более. Однако класс устройств, основанных на дифракционных принципах, позволяет обрабатывать сигналы на значительно более высоких частотах и с более широкими полосами, чем другие ультразвуковые приборы. Кроме того, преимуществом дифракционных устройств является низкий уровень искажений задержки. Это иллюстрируется примером сигнала, показанного на рис. 13.26, для которого ширина полосы сигнала равна
Рис. 19.24. Функции амплитудного отклика и задержки для «перпендикулярно-дифракционной линии задержки. Дополнительные данные по перпендикулярно-дифракционным линиям задержки приведены в работе Эвелета 27, который указывает на потери порядка 60 дб для устройства с коэффициентом сжатия Решетка выходных дифракционных преобразователей размещена на гипотенузе клина, а единственный длинный входной преобразователь установлен на основании. Конструкция такого устройства показана на рис. 13.27. Выходная решетка и в этом случае находится в ближней зоне поля излучающего преобразователя. В таком типе устройства не
Рис. 13.25. Отклонение задержки перпендикулярно-дифракционной линии от линейной характеристики.
Рис. 13.26. Вид сигналов, характеризующих работу фильтра сжатия и растяжения сигналов с перпендикулярно-дифракционной линией задержки; используются дифракционные принципы. Дисперсионная характеристика клина определяется тем, что любые два смежных преобразователя действуют как комбинированный резонансный преобразователь на частоте, для которой пути задержки смежных преобразователей, перпендикулярные к источнику, различаются на одну длину волны. Следовательно, размещение отдельных выходных преобразователей в виде решетки с переменным шагом приводит в результате к дисперсионной зависимости суммарной задержки от частоты. Это происходит потому, что резонансные частоты различных пар преобразователей будут расположены в различных участках спектра широкополосного входного сигнала. Клин будет обеспечивать либо растяжение, либо сжатие импульса, в зависимости от того, поступает ли на его вход широкополосный импульс или сигнал, функция ЧМ которого согласована с характеристиками клина. В устройстве такого типа может быть сформирована функция задержки с положительным и отрицательным наклоном, которая может быть и линейна и нелинейна. Ошибка задержки для клина больше, чем для перпендикулярно-дифракционной линии задержки. Эвелет приводит результаты, полученные для согласованной пары дисперсионных клинообразных линий при коэффициенте сжатия 70 : 1 с параметрами, которые приведены выше.
Рис. 19.27. Клинообразное устройство с дифракционной решеткой и дисперсионной характеристикой задержки. В тех задачах, где первостепенное значение имеет низкий уровень боковых лепестков по дальности, перпендикулярно-дифракционные линии задержки могут решить проблемы создания согласованного фильтра с малыми искажениями для РЛС. В других задачах, в которых приемлемы боковые лепестки по дальности порядка —25 дб, низкая стоимость тонких пластинчатых УЛЗ с продольной модой распространения (постоянной или переменной толщины) сделает их, по-видимому, более подходящими, если только с их помощью можно будет удовлетворить требования по ширине полосы Во многих задачах экономически выгоднее использовать линию переменной или постоянной толщины совместно с мостовыми системы может считать, что другие искажения амплитуды и задержки в приемнике устраняются схемой коррекции. Еще одной интересной проблемой является влияние потерь, вносимых фильтром сжатия, на динамический диапазон и характеристики обнаружения приемной системы. Для линий с сосредоточенными параметрами общие вносимые потери могут быть компенсированы путем разделения фильтра на блоки и подключения к каждому блоку своего собственного усилителя, компенсирующего потери. Но такую компенсацию возрастающих потерь трудно осуществить для дисперсионной УЛЗ, так как большая часть потерь происходит во входных и выходных преобразователях. Когда вносимые потери имеют порядок от 40 до 60 дб, как это может быть в некоторых ультразвуковых приборах, то может оказаться необходимым компенсировать значительную часть этих потерь в предусилителе, стоящем перед фильтром сжатия. Если усиление предусилителя велико, тогда в линии может произойти насыщение для более сильных принимаемых сигналов, что ограничит динамический диапазон приемника. ЛИТЕРАТУРА(см. скан) (см. скан)
|
1 |
Оглавление
|