§ 20. ЗАВИСИМОСТЬ ПОРОГОВОГО ТОКА ОТ СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ВЕЩЕСТВА И ПАРАМЕТРОВ РЕЗОНАТОРА
Активный слой иижекционных гомо- и гетеролазеров.
Еще до появления первого лазера на рубине была обоснована возможность получения стимулированного испускания в полупроводниках [569, 570, 579—581]. На опыте вначале было зафиксировано сужение линии излучения полупроводниковых диодов на основе арсенида галлия, что свидетельствовало о получении инверсной населенности [582], и вскоре появились сообщения о получении, генерации [583—586].
Создание квантовых генераторов на полупроводниках не только расширило круг веществ, пригодных для генерации света, но и открыло новые возможности получения активной среды, управления частотой и интенсивностью лазерного излучения. Большим достижением полупроводниковой квантовой электроники явилось создание гетеролазеров, работающих в непрерывном режиме при комнатной и более высоких температурах [587—590].
Активная среда в инжекционных лазерах получается при инжекции электронов и дырок через
-переход или через гетеропереход. В узком смысле слова
-переходом называется условная граница раздела двух областей кристалла, одна из которых имеет дырочный тип проводимости, а вторая — электронный. Гетеропереход — это граница раздела между двумя различными полупроводниками, образующими единый кристалл. В зависимости от типа проводимости полупроводников могут быть
-гетеропереходы,
или
-гетеропереходы.
Поскольку в лазерах на
-переходах используется один полупроводник, то они называются гомолазерами в отличие
от гетеролазеров, для получения которых нужно не менее двух различных полупроводников.
Лазерные
-переходы получают двумя способами: либо путем диффузии примеси в заранее выращенный кристалл (диффузионные
-переходы), либо путем наращивания на поверхность полупроводника с заданным типом проводимости слоя того же полупроводника с другим типом проводимости (эпитаксиальные
-переходы) [591, 592]. При получении гетеропереходов полупроводники легируются в процессе роста [590, 593].
Коэффициент отражения на границе полупроводниковый кристалл—воздух достаточно высок
поэтому для получения оптического резонатора в инжекцнонном лазере не требуется специальных зеркал. Достаточно сделать два торца диода параллельными друг другу и перпендикулярными к
-переходу. В кубических кристаллах резонатор обычно получают путем скалывания пластинки с имеющимся в ней
-переходом по кристаллографическим плоскостям. Чтобы плоскость
-перехода была перпендикулярна зеркалам резонатора, перед проведением диффузии или наращиванием эпитаксиального слоя пластинка ориентируется (§ 1), шлифуется и полируется так, что поверхность диффузии становится перпендикулярной к поверхностям скола.
Лазерный диод обычно имеет форму прямоугольного параллелепипеда, длина граней которого составляет от десятков микрон до
Получена генерация и на более длинных диодах — до
[594].
Грани параллелепипеда, параллельные плоскости
-перехода, металлизируются, и к ним подводятся электрические контакты. Боковые грани диода матируются. Если их сделать плоскопараллельными, то образуется четырехсторонний резонатор.
Электронные процессы, происходящие в инжекционном лазере, достаточно сложны, и их строгое количественное описание до сих пор отсутствует. Рассмотрим их качественно на примере лазерного диода с
-переходом.
Пусть плоскость
-перехода перпендикулярна оси х (рис. 98). Хотя однородный полупроводник при любом уровне легирования остается электрически нейтральным, в слоях, с двух сторон примыкающих к
-переходу, электронейтральность отсутствует [595, 596]. В результате диффузии дырок из
-области в
-область и диффузии электронов в обратном направлении около
-перехода создается область объемного заряда
а нейтральными будут только удаленные участки полупроводника (I и II на рис. 98, а). В
-области объемный заряд отрицательный, а в
-области—положительный.
уменьшится, поскольку внешнее электрическое поле направлено против
и уменьшает потенциальный барьер, созданный внутренним полем (рис. 98, е). Электроны и дырки будут двигаться навстречу друг другу. Их квазиравновесное распределение по энергии будет характеризоваться двумя уровнями Ферми
При этом в некотором слое полупроводника может оказаться, что
будет выполнено условие инверсной населенности (§ 19).
При одинаковой концентрации электронов и дырок уровень Ферми в
-области заходит глубже в зону проводимости, чем в валентную зону в
-области, так как плотность состояний в зоне проводимости обычно меньше, чем в валентной зоне. В результате этого активный слой, как видно из рис. 98, е, смещен в
-область диода
Важнейшее отличие гетеропереходов от простых
-переходов связано со скачкобразным изменением ширины запрещенной зоны на границе раздела двух полупроводников. Величина скачка запрещенной зоны
равна алгебраической сумме разрывов дна зоны проводимости
и потолка валентной зоны
Для гетероперехода
установлено:
В гетеропереходах
разрыв валентной зоны отсутствует, поэтому
[593].
Для создания лазерных гетеропереходов наиболее подходящей оказалась пара полупроводников
так как постоянные кристаллической решетки этих материалов
для
для
почти равны [597, 598]. В инжекционных лазерах используется несколько типов гетероструктур на основе
Простейшей из них является гетероструктура с одним
-гетеропереходом (рис. 99, а), в которой
-область характеризуется большей шириной запрещенной зоны, чем
-область, поскольку для нее берется
растет с увеличением значения х в форме
Односторонняя гетероструктура состоит из
-гетероперехода
и
-перехода в узкозонном материале (рис. 99,б). В двусторонней гетероструктуре два гетероперехода, причем
(рис. 99, г). В модифицированной двойной гетероструктуре
-структуре) между
-гетеропереходом и
-гетеропереходом создается
-переход в узкозонном материале (рис. 99, г) [593, 599].
По сравнению с простыми
-переходами гетероструктуры, особенно двойные, обладают двумя важными преимуществами, которые обеспечивают более низкий порог генерации при комнатной температуре. Во-первых, ширина запрещенной зоны в активной области двойной гетероструктуры меньше, чем
в пассивных областях. Поэтому инжектированные в активную область носители находятся в потенциалыюй яме. Потенциальные барьеры гетеропереходов препятствуют растеканию области рекомбинации за пределы активного слоя. В то же время в гомолазерах область рекомбинации, т. е. объем кристалла, где
может быть значительно больше активного слоя (рис. 98, е). Во-вторых, гетероструктуры обладают значительно лучшими волноводными свойствами, чем активный слой
-перехода.
Вследствие ограничения активной области потенциальными барьерами в гетеролазерах стало возможным явление суперинжекции, заключающееся в создании в активной области концентрации носителей более высокой, чем равновесная концентрация этих же носителей в эмиттере. На рис. 100 показано, как уровень Ферми
находившийся при термодинамическом равновесии ниже дна зоны проводимости в
-области, в результате суперинжекции заходит в зону проводимости в активной области [590]. Поэтому в гетеролазерах отпадает необходимость применять сильное легирование, которое сопровождается появлением в активной области большой концентрации дефектов.
Как видно из рис. 98, активная область гомолазера неоднородна. Она характеризуется градиентами концентраций электронов и дырок и зависимостью коэффициента усиления от координат. В гетеролазерах активный слой более однороден. В этом параграфе рассматривается в основном, модель однородного активного слоя, так как она позволяет в чистом
Рис. 99. Схемы лазерных гетероструктур на основе твердых растворов
значения х в формуле
причем обычно
а — простой
-гетеропереход; б - односторонняя гетероструктура с
-переходом в материале
и
-гетеропереходом, создающим потенциальный барьер для инжектируемых электронов; в — двусторонняя гетероструктура с
и
-гетеропереходами;
двусторонняя гетероструктура с
-переходом в материале
и двумя гетеропереходами
Рис. 100. Зонная диаграмма лазерной двусторонней гетероструктуры (рис. 99, в) при термодинамическом равновесии (а) и в режиме генерации (б) [590]
виде исследовать зависимость порога и мощности генерации от спектроскопических характеристик вещества и параметров резонатора.