Метод, использующий генерацию второй гармоники.

Сущность этого косвенного метода измерения длительности сверхкоротких световых импульсов поясняет рис. 3.55. Здесь 1 — лазер, 2 — светоделительная пластинка, превращающая исходный лазерный импульс в два импульса, 3 — неподвижное зеркало, 4 — подвижное зеркало, 5 — нелинейный кристалл, в котором происходит генерация второй гармоники, 6 — фильтр, пропускающий только вторую гармонику, 7 — фотодетектор. Благодаря зеркалам 3 и 4 оба световых импульса, получающиеся при расщеплении пластинкой 2 исходного импульса, попадают в нелинейный кристалл. С помощью подвижного зеркала 4 можно варьировать время задержки одного импульса относительно другого.

При рассматриваемые световые импульсы полностью перекрываются. В этом случае световая мощность в нелинейном кристалле максимальна, поэтому фотодетектор зарегистрирует относительно интенсивный импульс второй гармоники.

Обозначим через эффективную длительность сверхкороткого светового импульса. При световые импульсы не перекрываются; в этом случае мощность второй гармоники резко уменьшается. Если — поле одного из попадающих в нелинейный кристалл световых импульсов,

то поле импульса второй гармоники, выходящего из кристалла, может быть представлено в виде

При корреляционное слагаемое обращается в нуль; в результате мощность второй гармоники падает.

Таким образом, для измерения надо постепенно увеличивать от нуля время задержки и следить при этом за интенсивностью импульса второй гармоники. Время при котором будет наблюдаться резкое ослабление указанной интенсивности, и есть длительность светового импульса .