9.1.5. Дифракция в сходящемся пучке
Во втором способе наблюдения кривых качания при дифракции на тонком плоскопараллельном кристалле используется метод дифракции в сходящемся пучке, впервые предложенный Косселем
Фиг. 9.5. Дифракционная картина в сходящемся пучке для тонкого совершенного кристалла 
показывающая вариацию интенсивности в зависимости от угла падения для отражений 
Видны некоторые нарушения полос вследствие несистематических взаимодействий
и Молленштедтом [263]. В этом случае электронный пучок конечной апертуры фокусируется на образце. Если пучок ограничен круглой апертурой, каждое пятно дифракционной картины расширяется в круглый диск, как показано на фиг. 9.4, а. Для каждого угла падения в сходящемся пучке можно построить соответствующую сферу Эвальда и найти дифракционные интенсивности; это показано на схеме обратной решетки (кинематический случай) фиг. 9.4, б. Тогда изменение интенсивности в пределах центрального пятна и дисков дифракционных пятен в дифракционной картине будет соответствовать изменению интенсивности в зависимости от угла падения На фиг. 9.5 представлена типичная картина дифракции в сходящемся пучке на тонком совершенном кристалле 
В двухволновом случае диски падающего и дифракционного пучков будут пересекаться параллельными полосами интенсивности, согласно уравнению (9.4) для 
На этой основе Мак-Гиллари [2961 интерпретировала картины в сходящемся пучке, полученные Косселем и Молленштедтом от тонких кристаллов.
для разных отражений. Как потом оказалось, значения, которые она вывела, блестяще согласуются с значениями 
вычисленными из структуры слюды.
последние две группы авторов развили данную методику как способ точных измерений интенсивности; при этом они показали, что двухволновые результаты образуют только первое приближение к n-волновой дифракции, и использовали 
-волновые динамические дифракционные эффекты для вывода значений коэффициентов Фурье 
или 
с большой точностью.
