16.3.3. Анализ профиля линий
Для малого почти совершенного монокристалла распределение рассеивающей способности в обратном пространстве вокруг каждой точки обратной решетки дается фурье-преобразованием функции формы кристалла. Если кристалл изогнут или деформирован или если существуют много таких кристаллов, почти параллельных друг другу, с некоторым распределением по ориентациям или постоянным решетки, то распределение в обратном пространстве будет преобразовываться неким характерным образом, как, например, показано на фиг. 16.1 для частного случая. Следовательно, богатую информацию о размерах кристаллов, разбросе ориентаций, а также разбросе размеров элементарной ячейки можно получить при детальном исследовании распределения рассеивающей способности в обратном пространстве.
Многие материалы промышленного или научного значения таковы, что получить для исследования их монокристаллические образцы невозможно. Например, нельзя работать с монокристаллами при рентгеновских дифракционных исследованиях таких микрокристаллических материалов, как металлы, которые подвергались какой-либо холодной обработке. В этом случае могут быть получены только порошковые рентгенограммы, и единственная информация о форме распределений интенсивности в обратном пространстве вокруг точек обратной решетки малых кристаллитов — это статистически усредненные данные, содержащиеся в профилях интенсивности дифракционных колец.
Разумеется, польза от порошковых рентгенограмм, ограничена в том отношении, что из-за усреднения по всем ориентациям на сфере Эвальда трехмерная функция рассеяния сведена к одномерной. Но зато, с другой стороны, на таких рентгенограммах можно со значительной точностью измерять интенсивности и характерные размеры и проводить детальный анализ с помощью ограниченного числа хорошо выбранных параметров.
Изящный метод, предложенный в начале 50-х годов Уорреном и Авербахом [385, 387], позволяет с помощью анализа фурье-преобразований наборов линий порошковой картины различать вклады от размеров кристалла и от деформаций. С этого времени разносторонне развиваются методы анализа профиля линий, и по этому вопросу накоплена обширная литература (см. [399]).
