5.7.3. Интегральные интенсивности
Обычная процедура, позволяющая упростить измерения непрерывных распределений рассеивающей способности, состоит в обеспечении такого рассеивающего объема, который был бы много меньше области, в пределах которой 
изменяется значительно. В случае дифракции в хорошо закристаллизованных материалах, когда измеряется интегральная рассеивающая способность в острых максимумах, разделенных незначительным фоном, образец приготовляют в виде плоского диска. Для измерения используется хорошо сколлимированный почти монохроматический пучок и относительно широкий угол приема излучения детектором. При этом источник, детектор и точка касания плоскости образца лежат на общем (экваториальном) сечении сферы Эвальда. В процессе измерения диск проходит через острый максимум рассеивающей способности и полученная интенсивность интегрируется по времеци.
Для каждой экспериментальной ситуации, включающей эти упрощенные частные случаи, изменение формы и размера рассеивающего объекта и скорости, с которой он сканируется в обратном пространстве, учитывается путем умножения наблюдаемых интенсивностей на соответствующий коэффициент, известный как фактор Лоренца, который, как правило, можно считать функцией лишь величины угла рассеяния. Подробный еывод дает, например, Уоррен [388].
В случае дифракции электронов средних и еысоких энергий (большей частью превышающих 50 кэВ) рассмотрение рассеивающих объемов значительно упрощается ввиду малости углов рассеяния. Эффект разброса длин волн пренебрежимо мал. Влияние
конечных размеров источника можно проследить, вычислив свертку двумерной функции рассеивающей способности 
с функцией источника 
поскольку можно предположить, что 
не зависит от угла рассеяния. Тогда
Кроме того, если распределение интенсивности регистрируется детектором с конечной апертурой или фотопластинкой с конечным разрешением и чувствительностью, описываемой функцией 
то наблюдаемая интенсивность дается выражением
Тогда фактор Лоренца зависит лишь от способа, каким интенсивности интегрируются по времени (при вращении образца) или чаще по ориентациям кристалла (в случае, когда образец содержит набор разных кристаллических ориентаций).
При дифракции нейтронов, когда интенсивности измеряются как в зависимости от энергетических потерь, так и в зависимости от углов дифракции, рассмотрение может стать более сложным, чем для рентгеновских лучей. Мы предпочитаем здесь этого не касаться.
